1. Ciencia

Noticias Técnicas de National Instruments
Primer Trimestre 2004
TM
Beneficios en Negocios:
Lexmark Mejora la Exactitud
en sus Pruebas de Cartuchos
de Tinta
página 3
Enfoque Especial: Añada
Análisis a Sus Aplicaciones –
Ph.D. no es Necesario
página 14
Módulo LabVIEW 7 Real-Time
página 6
Actualice Sus Habilidades de
Ingeniería con LabVIEW 7 Express
página 8
NI Incrementa la Densidad
de Conmutación por un Factor
de Cuatro
página 12
Adquiera Datos Hasta 1,000
Veces más Rápido con NI-DAQ 7
página 16
Usando su Laptop para
Aplicaciones de Control
Portátil usando PXI
página 22
Cómo Sacar Mayor Provecho
de su Inversión en Datos
Si recolecta grandes cantidades de datos de prueba, construye equipos de prueba o toma mediciones,
usted posee un interés especial en sus datos. En efecto, cada punto de dato que guarde en disco es
valor en dinero para su compañía. Cuando no puede encontrar su dato o leer el formato en el cual
está almacenado, usted compromete el esfuerzo y gastos invertidos en el dato, así como la eficiencia
de su organización.
continúa en página 4
ni.com/latam
Dentro de NI
Reduciendo el Costo de Prueba
TM
Volumen 17, Número 1
Primer Trimestre 2004
Instrumentation Newsletter es publicada
trimestralmente por National Instruments
Corporation, 11500 N. MoPac Expwy, Austin,
TX 78759-3504 USA.
Dirigentes
Editor Ejecutivo, John Graff
Editor en Jefe, Lee Chapman
Editor Gerencial, Meredith Lai
Editor Senior, Jennifer Ownby
Editores Contribuyentes, Andria Balman,
Gail Folkins, Jennifer Radabaugh,
Julie Tomczyszyn, Sarah Wisian
Gerente Creativo, Joe Silva
Gerentes de Diseño, Steve Lasher,
Tamara Waite
Líder Equipo de Diseño, Stacy Walker
Diseñadores, Laura Lee Box, Robin Callan
Portada, Justin Owens
Coordinador de Fotografía, Nicole McGinnis
Especialista de Producción, Vern Harris
Coordinación de Circulación, Lisa Pacheco
Editor de Francés, Christine Mraizika
Editor de Alemán, Silke Loos
Editor de Italiano, Giuseppe Caltabiano
Editores de Japonés, Kiyoko Fukuda,
Yasuko Ando
Editores de Español, Jessica Staha,
Eloisa Acha
Trademarks
ActiveMath™, Analysis Advisor™, AutoCode™, BioBench™, Camera Advisor™,
CodeBuilder™, CodeLink™, ComponentWorks™, Citadel™, CVI™, DASYLab™,
DataSocket™, DAQCard™, DAQ Designer™, DAQPad™, DAQPnP ™,
DAQSourceCode™, DAQ-STC™, DAQWare™, DIAdem™, DocumentIt™,
EagleWare™, FieldPoint™, Flex ADC™, Flex DMM™, FlexFrame™, FlexMotion™,
HiQ™, HiQ-Script™, HotPnP™, HS488 ™, IMAQ™, Instrumentation Newsletter ™,
Instrupedia™, IVI™, LabVIEW™, LabVIEW Player™, Lookout™,
LabWindows™/CVI™, MANTIS™, MATRIXx™, Measure™, Measurement
Studio™, MicroGPIB™, MIGA™, MITE™, MXI™, National Instruments™,
National Instruments Alliance Partner™, ni.com™, NAT4882™, NAT7210™,
NAT9914™, NI™, NI-488™, NI-488.2™, NI Business Center™, NI-CAN™,
NI-DAQ™, NI Developer Suite™, NI Developer Zone™, NI-DNET™, NI-DSP™,
NI-FBUS™, NI-IMAQ™, NI-Motion™, NI Motion Assistant™, NI-PGIA™, NI
Prime Access™, NI-SHELL™, NI Sound Power System™, NI-VXI™, NIWeek™,
PXI Advisor™, RealSim™, RTSI™, SCXI™, SmartCode™, SpectrumWare™,
StillColor™, SystemBuild™, Take Measurements Not Estimates™, TestStand™,
The Software is the Instrument™, The Virtual Instrumentation Company™,
TIC™, T&M Explorer™, TNT4882™, TNT4882C™, TNT4882I™, Turbo488™,
ValueMotion™, VI UserNet™, VirtualBench™, VMEpc™, VXI Integrator™,
VXIpc™, VXIupdate™, XMath™, Your Measurement and
Automation Superstore™
© 2003-2004 National Instruments Corporation. Todos los
derechos reservados. Los nombres de los productos y las
razones sociales mencionados son marcas registradas o
nombres comerciales de sus respectivas companias.
2
En Agosto, el Columbia Accident Investigation
Board, el cuerpo independiente encargado de la
investigación de la causa de la pérdida en Febrero
de 2003 del Trasbordador Espacial Columbia, entregó
su reporte. Una de la causas del citado accidente en
el reporte fue que la NASA confió demasiado en las
defectuosas simulaciones de computadora y fórmulas
matemáticas que fallaron en la predicción exacta de
daños de las piezas de espuma que volaron. Expertos
dicen que la NASA debió realizar más pruebas, y el
panel de expertos para el accidente especificamente
subrayó la necesidad de la NASA de actualizar sus
equipos de prueba a las últimas tecnologías “que en
otros lugares han probado ser menos costosas, más
fáciles de mantener y más confiables y exactas.”
Es infortunado cuando una deficiencia en
prueba conduce a circunstancias trágicas como la
pérdida del Trasbordador Columbia. Sin embargo,
todos estamos concientes de los muchos ejemplos
en otras industrias o dentro de nuestras propias
compañías, donde fallas en pruebas apropiadas y
adecuadas han tenido consecuencias serias. ¿Qué
causa esta deficiencia en pruebas? Repetidamente lo
que surge de los ingenieros y administradores es que
el costo de las pruebas es muy alto, ya sea el costo
del equipo, el costo de desarrollo y mantenimiento
del sistema de prueba o el costo de lograr respaldos
adecuados de la prueba – las verdaderas mediciones
que determinan si una simulación, modelo, prototipo
o unidad de producción reúne las especificaciones
de diseño.
Reduciendo el Costo de
Equipos de Prueba
La instrumentación virtual reduce los costos del
equipo de prueba. Tomando provecho de las últimas
tecnologías comerciales, el costo del equipo de prueba
y medición ha bajado significativamente en las
últimas dos décadas. Desde la introducción de nuestra
primera tarjeta de adquisición de datos hace más de
15 años, NI ha continuado aprovechando las últimas
tecnologías en convertidores A/D y D/A para traerle
sucesivamente nuevas generaciones de dispositivos
de medición ofreciendo desempeño mejorado a un
menor costo. En efecto, nuestra primera tarjeta de
adquisición de datos para PC ofreció una resolución
de 12-bits y una velocidad de muestreo de 100 kS/s
por un precio de $1,495dls. Hoy, ofrecemos una
tarjeta con una resolución de 16-bits, una velocidad
de muestreo de 200 kS/s y a un precio de solo
$395dls. Estamos invirtiendo aún más en R&D para
reducir más el costo del equipo de medición mientras
entregamos desempeño mejorado para un amplio
rango de requerimientos de aplicación.
Reduciendo el Costo del
Desarrollo de Prueba
LabVIEW ha facultado a cientos de miles de
ingenieros y científicos para construir soluciones
personalizadas de prueba para literalmente millones
de requerimientos de pruebas. El intuitivo ambiente
gráfico le da a los usuarios las herramientas que
requieren para desarrollar rápidamente sistemas
de prueba, mientras se realiza el mantenimiento
continuado mucho más simple y transferible.
Compare esto con los lenguajes tradicionales de
programación que poseen curvas empinadas de
aprendizaje, cuentan con pocas o no capacidades
incluidas de medición y están normalmente sujetos
a incompatibilidades de una versión a otra. Las
ganancias en productividad de un sistema de
desarrollo LabVIEW son significativas reduciendo
los costos de desarrollo de prueba.
Reduciendo los Costos
de Diseño y Prueba
Se han realizado grandes pasos en software para
modelación, simulación, automatización de diseño
y sistemas embebidos. Sin embargo, cuando las
compañías son presionadas para reducir el tiempo
para mercadeo, aprovechar todas estas herramientas
incompatibles es difícil e ineficiente. Con la
integración de mediciones de LabVIEW en las
etapas de modelación y desarrollo de prototipo,
usted puede comparar datos de medición del mundo
real a los modelos teóricos más rápido y fácilmente,
resultando en identificación más temprana de
fallas y menos iteraciones de diseño requeridas
para lograr su producto final. NI realiza gran
inversión en desarrollo en esta área, como se ilustró
con la adquisición de la tecnología de diseño de
simulación y control MATRIXx y nuestros esfuerzos
colaborativos con las herramientas de desarrollo
DSP de Texas Instruments.
Realizar pruebas es sin duda uno de los pasos
más críticos para diseñar y construir productos que
sean más rápidos, mejores, más baratos y seguros.
NI piensa que la prueba es una parte estratégica
del proceso de diseño y estamos comprometidos
en reducir aún más los costos que mantengan las
pruebas en su justo lugar en su proceso de diseño. ■
John Graff, VP Marketing
[email protected]
ni.com
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Beneficios en Negocios
Lexmark Mejora la Exactitud en sus Pruebas de Cartuchos de Tinta
Actualizando su instrumentación de prueba existente
basada en PC para usar LabVIEW 7 Express y la
plataforma de señal mixta de 100 MS/s basada
en PXI de National Instruments, incluyendo el
digitalizador de alta resolución NI PXI-5122 y el
analizador/generador de forma de onda digital
NI PXI-6552, Lexmark mejoró la exactitud de
medición y la velocidad de E/S digital de prueba
eléctrica para cartuchos de inyección de tinta. Cliente
de NI desde 1997, Lexmark ha generado ahorros
en costos e incrementado el desempeño de pruebas
actualizando regularmente sus sistemas de prueba
basados en LabVIEW aprovechando los avances en
productos de NI e incorporando tecnologías también
de NI de forma más plena en su sistema.
Igual que otras compañías en el mercado
altamente competitivo de las impresoras, Lexmark
confía en la producción de alto volumen y ciclos
cortos lanzando productos al mercado y se enfoca
en administrar los costos para mantener los
márgenes. En este ambiente, los ingenieros de
prueba deben desarrollar sistemas de prueba más
rápido para una producción de alto volumen.
Incluso, deben mantener el costo total del sistema
bajo y mantenimiento simples con el fin de
reproducir y desplegar el sistema de prueba para las
líneas de producción de inyección de tinta en las
plantas manufactureras de todo el mundo. Por estas
razones, Lexmark selecciona una solución basada en
PC de NI para probar los cartuchos de tinta usados
con su familia de impresoras de inyección de tinta.
para el desarrollo de prueba. El digitalizador
velocidad NI PXI-6534, por lo que redujo el tiempo
NI PCI-5102 se caracteriza por una resolución de
de desarrollo a través de una fuerte integración con
8-bits y una velocidad de muestreo de 20 MS/s.
LabVIEW, reduciendo costos de hardware en un 69%
Para probar el cartucho de tinta, el digitalizador
y generando ahorros adicionales en costos de varios
secuencialmente midió la resistencia de más de
cientos de miles de dólares en un período de dos
200 inyectores de tinta.
Una tarjeta controladora
Actualizando al digitalizador de alta resolución NI PXI-5122,
personalizada de diseño
digital emuló los patrones
al generador/analizador de forma de onda digital NI PXI-6552 y
digitales generados
a NI LabVIEW 7 Express, Lexmark está mejorando la calidad
típicamente por la
de sus productos mientras aumenta su desempeño de pruebas
impresora para estimular
el cartucho. Lexmark
con gastos mínimos en desarrollo.
entonces puso corriente a
través de una sola resistencia conectada a
años. Más recientemente, Lexmark modificó su
un amplificador operacional (Op Amp) y el
software para aprovechar el nuevo generador/
digitalizador NI PCI-5102 midió esta salida.
analizador de forma de onda digital NI PXI-6552
Para prevenir daños en los inyectores, cada
para probar sus más recientes cabezas de impresión
inyector no pudo ser estimulado más de un 1 µS.
de alto desempeño. La compañía modificó algunos
Sin embargo, una solución basada en PC de NI
de los más de 40 programas de ejemplo incluidos
combinada con un digitalizador pudo adquirir
en LabVIEW para incorporar el NI PXI-6552 dentro
una señal exacta en tan solo un instante de 1 µS.
de sus aplicaciones con un esfuerzo de solo dos
En 1999, integrando el digitalizador de
semanas – un ahorro significativo en tiempo de
resolución flexible NI PCI-5911 con 12 bits de
desarrollo relativo a los ofrecimientos competitivos.
resolución a una velocidad de muestreo de
12.5 MS/s, Lexmark pudo reunir requerimientos
La Transición se Hace Simple
más exigentes de prueba para mejorar la calidad
con la Instrumentación Modular
y aumentar el rendimiento de producción. La
Usando la instrumentación modular basada en
migración del digitalizador PCI-5102 al PCI-5911
PC y el software estándar LabVIEW, Lexmark
fue directa ya que ambos digitalizadores usaban
continúa la adaptación de su sistema de prueba
el mismo software controlador.
para reunir sus últimos requerimientos con
Usando la Tecnología Avanzada
de NI para Cumplir Exigentes
Requisitos de Prueba
Aumentando la Velocidad y
Exactitud con la Nueva Plataforma
de Señal Mixta de NI a 100 MS/s
Lexmark inició construyendo su sistema de
prueba para cartuchos de tinta en 1997 usando el
digitalizador NI PCI-5102 para pruebas eléctricas
de cartuchos de inyección de tinta y LabVIEW
En el 2003, Lexmark se actualizó al digitalizador
basado en NI 5122 PXI con una resolución de
14-bits y una velocidad de muestreo de 100 MS/s.
El digitalizador NI PXI-5122 no solo excedió
las especificaciones de velocidad y exactitud
de Lexmark, sino que la compañía también
pudo conservar sus avances en software de
automatización de prueba. Usando los ejemplos
incluidos, actualizaron fácilmente el software
original escrito para el NI PCI-5102 para que corra
en el NI PXI-5122. Ellos continúan usando el
mismo software desarrollado para el NI PCI-5102,
mientras evolucionan para reunir sus actuales
y futuros requerimientos de prueba con el
digitalizador de alta resolución NI PXI-5122.
Lexmark también necesitó E/S digital de alta
velocidad para controlar las cabezas de impresión de
tinta para las mediciones de resistencia. En el 2001,
Lexmark migró a la tarjeta de E/S digital de alta
Lexmark mejoró la exactitud de medición y la velocidad
de E/S digital de prueba eléctrica de cartuchos de
inyección de tinta usando NI LabVIEW 7 Express
y la plataforma de señal mixta NI de 100 MS/s.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
mínimo tiempo de desarrollo. Actualizando al
digitalizador de alta resolución NI PXI-5122, al
generador/analizador de forma de onda digital
NI PXI-6552 y a LabVIEW 7 Express, la compañía
está mejorando la calidad de sus productos
mientras aumenta su desempeño de pruebas
con gastos mínimos en desarrollo. ■
Para tomar un recorrido virtual de los nuevos
instrumentos modulares NI PXI-5122 y
NI PXI-6552, visite ni.com/info y use la
clave nsi4103.
Para descargar una demostración GRATIS de
30 días de LabVIEW 7 Express, visite ni.com/info
y use la clave nsi4104.
ni.com/success
3
Cubierta
Cómo Sacar Mayor Provecho de su Inversión en Datos
continúa de página 1
Por defecto, muchos ingenieros administran
datos a través de archivos, enviándolos a través
de numerosas computadoras y usando Windows
Explorer para buscar nombres de archivos y
estructuras de directorios para localizar los
conjuntos de datos. Aunque este método de
administración de conjuntos de datos es simple,
resulta en serias ineficiencias que limitan el
beneficio de los datos que usted pagó por
• ¿Ha tenido que volver a correr pruebas debido
a que los datos se perdieron?
Si respondió sí a cualquiera de estas preguntas,
necesita herramientas y una arquitectura para
ayudarle a obtener lo máximo de su inversión
en datos. Pruebas automatizadas de motor, por
ejemplo, requieren que usted corra miles de
pruebas en cada nuevo motor para caracterizar
adecuadamente las constantes de calibración
usadas en la unidad de control de motor (ECU).
Así como NI LabVIEW se ha convertido en una herramienta estándar en la industria
para medición y automatización, las compañías se han estandarizado en NI DIAdem
para reducir el tiempo entre el final de una prueba y cuando los resultados de reporte
están disponibles.
recolectar. Este artículo explora algunos temas
sobre administración de datos, incluyendo los
síntomas que rodean la mala manipulación de
datos de prueba, como una mala administración
de datos puede afectar su organización y tres
pasos para administrar eficientemente sus datos
de prueba.
¿Posee Usted un Problema de Datos?
Responda las siguientes preguntas para determinar
si puede obtener mejor productividad a través de
la administración de sus datos de prueba:
• ¿Usa nombres de directorios y archivos para
describir sus datos de prueba?
• ¿Usa Windows Explorer para localizar sus datos
de prueba?
• ¿Depende de llamadas telefónicas o e-mails
para localizar datos de prueba?
• ¿Se beneficiaría de ver qué pruebas pasadas
han corrido?
UBP
Para hacer el mejor uso de este dato, usted debe
ser capaz de identificarlo, cargarlo y convertirlo
fácilmente en los resultados que necesita para
derivar estas constantes.
A medida que la instrumentación virtual
se vuelve más sofisticada, el número de tipos
de mediciones se incrementa, causando un
crecimiento exponencial en los datos de prueba
guardados a disco. No es raro encontrar
departamentos de ingeniería con un terabyte o
más datos de prueba esparcidos sobre numerosas
computadoras de escritorio. Normalmente usted
no puede localizar o interpretar muchos de
estos datos sin el conocimiento de individuos
específicos. Aún con las mejores intenciones,
nombres de archivos y directorios estandarizados
no solucionan el problema, ya que Windows
Explorer no fue diseñado para administrar datos
de prueba y rápidamente demuestra ineficiencia
y costo prohibitivo.
NI LabVIEW
ejecutándose en PXI
Analiza y recaba datos
en tiempo real
NI DIAdem
Base de datos
UBP
Analiza e informa sobre
los datos adquiridos
NI LabVIEW
ejecutándose en PXI
Los datos de prueba son una inversión que conducen a decisiones. NI LabVIEW y PXI ofrecen una manipulación
de datos más rápida y eficiente, dándole un mejor retorno.
4
¿Cómo Puede Solucionar
el Problema de Datos?
La forma para resolver su problema de datos varía
dependiendo del tipo de pruebas que usted corre,
pero un camino común usa atributos descriptivos
para administrar datos. Adhiriendose a los pasos
siguientes para almacenar atributos descriptivos,
usted puede finalmente ahorrar tiempo y dinero
a su compañía:
1. Identifique los atributos descriptivos que usaría
para localizar pruebas
2. Inserte la información descriptiva en una tabla
de base de datos
3. Implemente la búsqueda y las características de
selección de datos en su herramienta de reporte
El resto de este artículo describe cada uno de
estos pasos en mayor detalle.
Paso 1: Identifique los Atributos
Descriptivos Que Describen
Sus Pruebas
Use identificadores descriptivos como los listados
abajo para localizar sus datos de prueba:
• Unidad bajo prueba (UUT)
• Programa de prueba
• Operador de prueba
• Número serial
• Número de parte
• Temperatura Ambiente
• Fecha de prueba
Su lista puede variar en base a el tipo de
pruebas que corre, pero en la mayoría de los
casos usted registra y escribe una vez esta
información en el encabezado de su archivo de
datos. Entre más atributos asocie con sus datos,
más sofisticadas pueden ser las preguntas para
localizar el dato. Por ejemplo, en las pruebas
automatizadas de motor, puede localizar pruebas
usando una jerarquía común y preguntas tales
como, “Muéstreme todos los motores con número
de modelo XYZ, probados usando aceite de peso
40 entre las fechas de 2/3/2003 y 2/8/2003.”
Esta pregunta requiere que el número de modelo,
tipo de aceite y fecha de prueba sean asociados
con el dato.
Otro método común para encontrar relaciones
complejas en sus datos es incluir resultados de
análisis como atributos. Por ejemplo:
• Valores máximo/mínimo
• Frecuencia pico
• Promedio estadístico
• Desviación estándar
En el ejemplo de automatización, usted deriva
la potencia en caballos pico desde los datos
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Cubierta
recolectados durante la prueba. Incluir este como
uno de los atributos hace más fácil localizar
pruebas en base a unas condiciones muy
específicas. Cuando liste los atributos, considere
que otros departamentos para los que trabaja
pueden tener unos requerimientos diferentes para
localizar el mismo dato de prueba. Soluciones
simples generalmente solo necesitan de 10 a 20
atributos para describir una prueba, considerando
que los sistemas complejos frecuentemente usan
cientos de atributos.
Paso 2: Inserte Información
Descriptiva en una Tabla de
Base de Datos
El siguiente paso para solucionar el problema de
datos es crear una base de datos. Este paso va
desde simples hasta muy complejas dependiendo
de diferentes factores, incluyendo el tamaño
de su organización. Como se mencionó antes,
probablemente usted ya guardó un correcto
número de atributos en la sección de encabezado
de su archivo de datos. Si no, puede necesitar
extender su programa de recolección de datos
para capturar los atributos necesarios que
identificó en el Paso 1.
Para los usuarios de LabVIEW, añadir los
controles apropiados al panel frontal y crear la
lógica para asegurar que sean realizados antes
de la prueba asegura que se capture los atributos
cuando escribe los datos a disco. Además, puede
extender sus rutinas de almacenamiento de datos
usando el Database Connectivity Toolset de
NI LabVIEW para insertar nuevos registros en
la base de datos que contiene los atributos para
cada prueba. Finalmente, debe insertar una
ruta de archivo para la localización del dato
de medición o escribir la medición completa
en la base de datos.
Paso 3: Implementando la
Búsqueda y Características
de Selección del Dato
Así como NI LabVIEW se ha convertido en
una herramienta estándar en la industria para
medición y automatización, las compañías se
han estandarizado en NI DIAdem para reducir
el tiempo entre el final de una prueba y cuando
los resultados de reporte están disponibles.
DIAdem es un ambiente intuitivo en el cual usted
puede interactivamente administrar sus archivos
de datos, analizar sus datos y diseñar reportes
de calidad para publicación con sus resultados
de prueba.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Tabla de
Atributos Descriptivos
Datos de la Prueba
UBP
Operador
Programa para prueba
Centro de costos
Número de serie
Número de parte
Fecha de las pruebas
Mediciones y
datos analizados
para
búsquedas y navegación
enlaces a archivos
o bases de datos
Los datos de prueba son una inversión que conducen a decisiones. NI LabVIEW y PXI ofrecen una
manipulación de datos más rápida y eficiente, dándole un mejor retorno.
Por ejemplo, puede usar las características
interactivas de DIAdem para inspeccionar datos
sobreponiendo varias ejecuciones de prueba y
encontrando los valores claves donde las trazas
de datos se intersectan. Además, las características
de análisis de DIAdem tales como ajuste de curvas
y búsqueda de picos le ayudan a extraer tanto
coeficientes para el dato de ajuste como valores
pico que requiere para tomar adecuadas
decisiones de diseño.
Para completar su solución de problema de
datos, puede diseñar diálogos personalizados en
DIAdem y localizar el dato que desea filtrando
interactivamente los atributos descriptivos que
definió en el Paso 1. Una vez localice las pruebas,
los diálogos llaman funciones estándares de
DIAdem para importar el conjunto de datos y
así puede analizarlos y generar reportes. Puede
usar ya sea las características incluidas en DIAdem
de forma interactiva o puede automatizar
totalmente su análisis y tareas de reporte.
Para resolver su problema de datos, debe
identificar los atributos descriptivos, escribir
los atributos en una base de datos centralizada
y debe seleccionar estos atributos para encontrar
el conjunto de datos que desea analizar y reportar.
Usando LabVIEW y DIAdem, usted construye una
solución basada en herramientas estándares que
ofrece características especialmente orientadas a
resolver la mala manipulación de datos de prueba
y usted ahorra tiempo invaluable en el proceso.
Aún más, solucionando estas fallas comunes,
usted y su compañía se benefician de la habilidad
de localizar pruebas rápidamente y compartir
resultados eficientemente. ■
Para descargar una nota de aplicación ilustrando
como puede usar NI LabVIEW, NI DIAdem y
cualquier base datos SQL para crear un sistema de
trabajo para administración de datos de prueba,
visite ni.com/info y use la clave nsi4101.
Dependiendo de su familiaridad con el diseño
de bases de datos y el tamaño de su proyecto,
usted debe considerar contactar un miembro
del Programa Alianza de NI para consulta.
Visite ni.com/info y use la clave nsi4102.
Tom Ferraro
Ingeniero de Mercadotecnia para DIAdem
[email protected]
ni.com/diadem
5
Característica
Módulo LabVIEW 7 Real-Time
En 1999, LabVIEW de National Instruments
corrió en una plataforma de hardware en
tiempo real diseñada para uso con sistemas
PCI. Hoy, LabVIEW corre en una variedad
de plataformas de tiempo real incluyendo
una tarjeta actualizada PCI, PXI, FieldPoint,
Compact FieldPoint, Compact Vision Systems
(CVS) y FPGAs embebidos en hardware de NI
de E/S reconfigurable (RIO). Esta familia de
productos de tiempo real le da a los ingenieros
una opción en tiempo real de hardware externo
para reunir el desempeño, robustez, tipo de E/S
y factor de forma requeridos para una variedad
de aplicaciones.
Con LabVIEW Real-Time, usted define la
operación del programa usando una herramienta
que va desde la fase entera de desarrollo
incluyendo configuración de sistema, prototipos
de algoritmos y despliegue de aplicación. Usted
desarrolla en un sistema Windows o Mac OS X
y entonces realiza un desempeño determinístico
confiable desplegando el código LabVIEW a un
objetivo dedicado en tiempo real. Mientras la
experiencia de desarrollo es similar a la de los
sistema de escritorio, el Módulo Real-Time de
LabVIEW adiciona nuevas herramientas al
ambiente para permitirle tomar total provecho
de la plataforma en tiempo real.
Desde su introducción en 1999, NI ha
innovado agresivamente en la plataforma
Real-Time de LabVIEW, proporcionando:
• Herramientas rápidas de desarrollo
• Fuerte integración con E/S
• Bajo costo a través de tecnología
comercial interna
La naturaleza intuitiva del lenguaje LabVIEW,
combinada con las interfases incluidas para una
variedad de E/S, ofrecen desarrollo más rápido de
sistemas en tiempo real. Además, la integración
entre hardware y software es más estrecha que
con herramientas ofrecidas por otros vendedores.
Por ejemplo, usando LabVIEW con hardware de
adquisición de datos (DAQ) de NI, usted puede
implementar fácilmente funciones avanzadas
de temporización tales como inicialización de
operaciones de software usando interrupciones
generadas desde un reloj en hardware de
20 MHz. Esta fuerte integración, suministrada
por el software controlador NI-DAQ, reduce las
fluctuaciones del sistema a solo unos pocos
nanosegundos. La tabla en la siguiente página
resalta las características adicionales en la
evolución de LabVIEW Real-Time en las áreas de
desempeño, comunicación e integración de E/S.
6
La Arquitectura
Real-Time
Objetivo de LabVIEW Real-Time
Las plataformas real-time
proporcionan un marco de
trabajo para sus aplicaciones
para correr predictivamente
en el tiempo, con mayor
PXI
confiabilidad y embebida en
otro dispositivo. Todas las
plataformas de despliegue de
Compact FieldPoint
LabVIEW Real-Time se basan
E/S reconfigurable
en un hardware común y
arquitectura de software.
Cada objetivo de hardware
Computadora primaria ejecutando LabVIEW
emplea componentes de
computación internos tales
como un microprocesador,
RAM, memoria no volátil
y un bus de interfase a E/S.
El software embebido consiste
PCI-7041
Sistema con Compact Vision
de un sistema operativo
en tiempo real, software
Desarrolle aplicaciones en tiempo real con LabVIEW en una computadora y
controlador y una versión
entonces distribuya en una variedad de objetivos dedicados incluyendo
especializada de la máquina
sistemas NI Compact FieldPoint, PCI, Compact Vision, E/S reconfigurable y PXI.
de LabVIEW Real-Time.
Mientras la arquitectura central es la
preventivo. Con LabVIEW, usted especifica el
misma a través de todos los objetivos de
nivel de prioridad específico para cada sección de
LabVIEW Real-Time, la extensión hasta la
su código. A medida que la aplicación se ejecuta,
cual usted puede aprovechar estos beneficios
el sistema operativo en tiempo real asegura que
varía de acuerdo a la plataforma seleccionada.
las operaciones de alta prioridad, tales como su
Los sistemas en tiempo real PXI, PCI y RIO
ciclo de control de procesos, siempre reciba el
proporcionan el mayor desempeño determinístico
tiempo necesario del procesador. Tareas menos
mientras Compact FieldPoint y Compact Vision
importantes, tales como registro de datos y
systems proporcionan el mayor grado de
comunicación Ethernet, ocurren cuando las
confiabilidad. Todas las plataformas funcionan
tareas de alta prioridad están inactivas.
embebidas y como sistemas autoejecutables.
Las plataformas PXI y PCI ofrecen los
Ejecución Predictiva en el Tiempo
El desempeño determinístico en el tiempo es un
componente crítico de los sistemas de control
estables. Las matemáticas de los algoritmos de
control se basan en un intervalo preciso de
tiempo (∆t) entre operaciones de entrada y de
salida. Si el controlador está distraído y no puede
completar los cálculos necesarios dentro del ∆t
específico, las matemáticas detrás de los cálculos
ya no son relevantes, haciendo difícil para el
sistema lograr la estabilidad. Esta es la razón
principal por la que los sistemas de control de
alto desempeño son construidos en plataformas
de tiempo real.
Los programas en LabVIEW Real-Time
corren en un sistema operativo en tiempo real
que sigue un mecanismo de planificación
procesos más rápidos y un bus de datos que
está optimizado para transferencia de datos de
alta velocidad y temporización sincronizada a
través de varios dispositivos. NI RIO amplía las
capacidades determinísticas de las aplicaciones
LabVIEW implementando lógica en hardware,
entregando procesamiento distribuido para lograr
niveles más precisos de determinismo a través
de todas las funciones de su sistema.
Ejecución Confiable
Además del desempeño determinístico, los
sistemas operativos en tiempo real imparten
un alto nivel de confiabilidad ya que ellos son
sistemas operativos especializados y dinamizados
que usan menos recursos y eliminan las fragilidades de los sistemas operativos estándares. Junto
con el marco de trabajo de software de mayor
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Característica
Ejecución Embebida
Los sistemas operativos en tiempo real son
normalmente usados en sistemas que requieren
inteligencia embebida en otro sistema. La
arquitectura de un sistema operativo en tiempo
real asume no dependencias en interacciones
humanas, habilitando al sistema para un rápido
inicio o booteo y correr inmediatamente la
aplicación apropiada sin esperar por una
señal desde el ratón o teclado.
Todos los objetivos de LabVIEW Real-Time
cumplen con esta arquitectura, habilitando a
los ingenieros a incrustar sistemas LabVIEW
Real-Time dentro de grandes máquinas o
desplegarlos remotamente donde la
interacción humana
es intermitente. Por
consiguiente, las
principales diferencias
entre objetivos en
tiempo real autoejecutables son el
tamaño y la variedad
de E/S. Las líneas de
productos en tiempo
real Compact FieldPoint,
Compact Vision y
PCI proporcionan la
huella física más
pequeña mientras
la plataforma PXI
proporciona la mayor
diversidad en E/S,
incluyendo señales
análogas, digitales,
de movimiento,
visión, contadores y
señales personalizadas.
VERSIÓN DE
LABVIEW
1999
confiabilidad, las plataformas LabVIEW Real-Time
incluyen modificaciones de hardware que proporcionan aún mayor nivel de confiabilidad útil en
ambientes industriales. National Instruments ofrece
una variedad de plataformas de hardware en
tiempo real robustas que extienden el uso de
LabVIEW Real-Time a ambientes rudos donde el
hardware puede resistir temperaturas extremas,
choques, vibraciones y fallas intermitentes de
alimentación. Compact FieldPoint, Compact
Vision System y la línea NI 814x de controladores
PXI están diseñados con partes no móviles,
eliminando las fallas más comunes debido a
choques y vibración. Además, los controladores
Compact FieldPoint y los dispositivos NI de
E/S reconfigurable están diseñados para trabajar
en un amplio rango de temperaturas desde
-25 hasta 60 °C, eliminando así las fallas debidas a
calentamiento. Para aplicaciones donde la energía
puede fallar, los sistemas Compact FieldPoint
también ofrecen entradas redundantes de
suministro de alimentación para una conexión
transparente a baterías de soporte.
5.1.2
5.1.2
6i
6i
6.1
6.1
7 Express
7 Express
Tiempo Real
en la Industria
7 Express
NUEVAS FUNCIONES
Análisis punto a punto
Respuesta más rápida a cambios de sistema con
procesamiento de datos en línea para sistemas de
control de punto único
FIFO RT
Transferencia determinística de datos entre hilos en
el objetivo de RT, habilitando la comunicación sin
exponer el desempeño en tiempo real
NI VISA
Integración de dispositivos no de NI en
sistemas con LabVIEW RT
Ciclos con temporización determinada por hardware
Reducción de fluctuaciones del sistema a
nanosegundos al enlazar las operaciones de
software al reloj en hardware de NI-DAQ
Paneles remotos
Monitoreo y control de VI embebidos por medio de
un navegador de Web estándar
VI PID polimórficos
Implementación de lazos PID múltiples con un VI que
acepta variables independientes para setpoints,
ganancias modificables, etc.
Asistente de Comunicación RT
Creación automática de VI de comunicación entre las
computadoras primaria y objetivo con una arquitectura
de programa que proporciona la máxima confiabilidad
y desempeño determinístico
Módulo de LabVIEW FPGA
Obtención de desempeño de hardware al implementar
VI de LabVIEW en FPGA en dispositivos de E/S
reconfigurable de NI
API FieldPoint
Desarrollo de aplicaciones con FieldPoint y
Compact FieldPoint cinco veces más rápido con
API FieldPoint más eficaces
ÁREA DE
ENFOQUE
Desempeño
Comunicación
Integración de E/S
Integración de E/S
Comunicación
Desempeño
Comunicación
Desempeño
Integración de E/S
Robustez
2003
Así como LabVIEW
revolucionó la
automatización de
pruebas en computadoras de
escritorio, LabVIEW Real-Time Las innovaciones en LabVIEW Real-Time continúan reduciendo la complejidad de
ofrece una mejor alternativa
la tecnología en tiempo real, suministrando un conjunto de productos integrados
para desarrollar sistemas
que reducen el tiempo de desarrollo para sistemas de control de este tipo.
de control en tiempo real.
Las innovaciones en LabVIEW Real-Time
estado de torres de transmisión y sincronización
continúan reduciendo la complejidad de la
de medición y control en pruebas de escaneo
tecnología en tiempo real,
por microscopios. ■
proporcionando un conjunto
de productos integrados que
Para mayor información, visite ni.com/info y use
cFP
reducen el tiempo de desarrollo.
la clave nsi4105.
Con LabVIEW Real-Time, más
CVS
ingenieros pueden aprovechar la
Jenifer Loy
tecnología en tiempo real para
Gerente de Real-Time y Embedded
RIO
PXI
FP
implementar sistemas con [email protected]
gencia embebida, incrementando los
PCI
niveles de seguridad y confiabilidad
y arquitecturas distribuidas de redes
Desempeño
de trabajo. Hoy, los clientes corren
LabVIEW Real-Time en aplicaciones
LabVIEW corre en una variedad de plataformas de tiempo real, con
que incluyen control de combustible
Compact FieldPoint (cFP) y Compact Vision Systems (CVS) proporcionando
ni.com/realtime
nuclear, diseño de unidades de
el hardware de mayor robustez, y PXI y E/S reconfigurable (RIO)
proporcionando el mayor desempeño.
control de motores, monitoreo de
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
7
Característica
Actualice Sus Habilidades de Ingeniería con LabVIEW 7 Express
Un ingeniero en una de las mayores compañías de
maquinaria industrial cuenta su experiencia reciente
como un nuevo empleado en su primer trabajo:
Me sentaba en una reunión y oía a todos quejarse
sobre los métodos usados para colectar datos de
nuestras estaciones de prueba. Eran establecidas
y confiables, pero solo podían publicar datos
del proceso.
Mencioné LabVIEW como una herramienta que
podía capturar los mismos datos y mostrar los
resultados en tiempo casi real. Los miembros del
equipo habían intentado tareas similares previamente
con otros productos sin ningún resultado.
Para mostrar el potencial de LabVIEW, solicité
una copia de demostración en línea y empecé a
usarla. Mi jefe y los miembros de mi equipo
quedaron impresionados y compramos una
suscripción a NI Developer Suite. Ahora
dificilmente pasa un día en el que yo no use
LabVIEW para todo desde correr un programa
rápido de prueba hasta desarrollar una estación
completa de pruebas.
Esta habilidad de los ingenieros para innovar
una nueva solución para un problema existente
proviene desde su interacción con la tecnología
en la industria mientras estaba todavía en la
escuela. Él es uno de los miles de ingenieros
graduados de las universidades a través de todo
el mundo cada semestre ya familiarizados con
las herramientas de software líder para diseño
y aplicaciones de prueba.
Estos estudiantes obtienen una valiosa
visión que pueden implementar inmediatamente
en el trabajo y tener éxito donde los colegas han
fallado debido a las herramientas anticuadas o
limitadas. National Instruments reconoce que la
importancia de invertir tiempo, esfuerzo y dinero
en la academia es doble: primero, que entrenando
a los estudiantes en las herramientas mas usadas
en la industria los prepara para ser profesionales
de éxito y productivos, y segundo, creando
programas educativos excitantes que retienen
nuevos estudiantes de ingeniería a través de
sus carreras académicas direccionan el problema
de reducción de ingenieros graduados cada año
en Norte América.
Los Estudiantes Ganan Exposición
Práctica en las Herramientas
Líderes en Software
Durante los últimos 10 años, un firme número
creciente de estudiantes se han graduado de las
8
NI LabVIEW es una herramienta poderosa tanto en el trabajo como en el salón de clase, dando a los estudiantes de
ingeniería la ventaja después de graduados.
mayores universidades en el mundo con experiencia en LabVIEW – una tendencia que muestra
el énfasis que pone la academia en influenciar a
los estudiantes con las tecnologías industriales de
punta para una mejor preparación de ellos para
sus carreras profesionales. Por ejemplo:
• Los estudiantes de ingeniería química en
Brigham Young University emplean LabVIEW
para colectar y analizar señales esparcidas
de luz en la sangre
• Los estudiantes de ingeniería electrónica
de ENSERG (Ecole Nationale Superieure
D'Electronique et de Radioelectricite de
Grenoble) en Francia usan LabVIEW para
estudiar procesamiento de señal y teoría de
filtros numéricos
• Los estudiantes de física en Panjab University
en la India usan LabVIEW para realizar
investigaciones en ciencia de materiales
y estudiar las propiedades eléctricas y
fotoeléctricas de semiconductores
• Los estudiantes de física en Colorado School of
Mines usan LabVIEW con dispositivos digitales
en modernos circuitos electrónicos, tales como
dispositivos de compuertas lógicas, flip-flops,
temporizadores, contadores, multiplexores,
demultiplexores, análogo a digital y digital
a análogo
Tan pronto como en la primaria, los estudiantes
están usando la programación gráfica para crear
robots de movimiento con bloques de construcción
LEGO y software RoboLab. Puede accesar el material
de cursos usando en muchas de estas clases, desde
primarias hasta universidades, junto con
información sobre como los instructores pueden
enseñar LabVIEW, en línea en ni.com/academic.
NI atribuye el incremento del uso de
LabVIEW en la educación a diferentes factores.
Además de hacer a los ingenieros en su trabajo
más productivos con su naturaleza gráfica y
enfoque en tareas de ingeniería, LabVIEW
actualmente hace el aprendizaje más fácil e
interesante. Con la nueva tecnología express y
la generación de código en la última versión,
LabVIEW 7 Express, los estudiantes pueden tomar
mediciones reales y sofisticadas inmediatamente,
sin prerrequisitos en clases de computación para
entender el software. Una preocupación principal
de profesores, estudiantes e ingenieros es
crear aplicaciones que obtenga las mediciones
rápidamente y también se ajuste con el proyecto
a medida que crece. Usando el State Diagram
Toolkit para LabVIEW 7 Express, pueden diseñar
diagramas de estado familiares para que ingenieros
electricistas y de computación puedan definir la
lógica y usarlos para generar automáticamente
código de aplicación. En esencia, los estudiantes
que usan LabVIEW en el salón de clase se pueden
concentrar en el aprendizaje y solución de
problemas de ingeniería, y no en los tediosos
procedimientos de programación requeridos
para resolverlos.
Con miles de ingenieros graduados cada
semestre capacitados en LabVIEW 7 Express, las
compañías obtendrán ganancias significativas en
productividad ya que sus nuevas contrataciones
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Característica
pueden contribuir inmediatamente con la solución
de problemas del mundo real. Estos estudiantes
son más competitivos y exitosos desde el inicio
de sus carreras en comparación con estudiantes
que no han tenido una experiencia similar con
las herramientas de la industria.
La Educación de la Universidad
Solo le Lleva Hasta un Punto –
Debe Mantenerse Actualizado
Como usted ya sabe, la capacitación técnica en los
colegios y las correctas herramientas de software
solo pueden llevarlo hasta un punto. Con o sin
buenas técnicas de programación, los ingenieros
crean soluciones cada día. Sin embargo para un
mejor desempeño, mantenimiento y confiabilidad
de su solución de software, usted requiere
desarrollar tanto técnica como experiencia.
LabVIEW 7 Express ha hecho grandes pasos
aumentando el desempeño de pruebas, mediciones
y aplicaciones de control, mientras también facilita
más que antes la programación. La rearquitectura
asociada del software controlador de adquisición
de datos NI-DAQ y los mayores avances en
desarrollo interactivo ofrecen una oportunidad
para involucrarse con las últimas tecnologías para
mantenerse en la cima de la curva. Con esta
versión, LabVIEW provee herramientas más
limpias, eficientes y de mayor desempeño para
desarrollar sus aplicaciones.
Sus años de experiencia en el campo le
da una mayor ventaja competitiva. Acoplando
esta experiencia con un continuo esfuerzo de
aprendizaje en las últimas técnicas y herramientas,
usted puede mantener su delantera competitiva
fácilmente. La ingeniería, por definición, implica
continuos cambios tecnológicos, y mantenerse
con estos cambios normalmente significa
educación continua. Dependiendo de sus
necesidades, puede aprovechar los diferentes
recursos para estar actualizado. Su universidad
local puede ofrecer cursos sobre LabVIEW 7 Express.
National Instruments ofrece regularmente cursos
para que ingenieros aprendan LabVIEW por
primera vez, así como también para aquellos
que han programado por años pero necesitan
actualizarse rápidamente en muchas de las
características de la nueva versión.
Además de un entrenamiento formal, usted
puede accesar tutoriales en línea, demostraciones,
documentos y foros de discusión de National
Instruments en ni.com. También puede encontrar
puntos de vista y soluciones de desarrolladores
de LabVIEW al rededor de todo el mundo.
Si usted prefiere una interacción presencial,
grupos locales de usuarios se reúnen regularmente
para discutir técnicas avanzadas y características
en LabVIEW. Estos grupos de usuarios son
normalmente lidereados por expertos de LabVIEW
en su comunidad y son un excelente recurso para
estar al tanto y permanecer conectados por red
con compañeros desarrolladores en LabVIEW.
Encuentre un grupo de usuarios cerca de usted
en ni.com/labviewzone.
Finalmente, si usted está comprometido en
estar al tanto con LabVIEW y está interesado en
obtener las credenciales que lo acrediten, la
certificación LabVIEW le ofrece una oportunidad
para hacerlo. Con niveles de Desarrollador y
Arquitecto, el programa de certificación en
LabVIEW es suministrado por National Instruments
como una forma de reconocer y distinguir a los
programadores excepcionales en LabVIEW. Los
ingenieros certificados son reconocidos en la
industria como expertos en LabVIEW y disfrutan
privilegios especiales como copias de nuevos
productos antes de salir al mercado, reconocimiento profesional y soporte técnico avanzado.
Puede encontrar más información sobre
certificación en LabVIEW en ni.com/services.
Con la tecnología National Instruments,
usted puede ampliar sus habilidades de software
y permanecer a la cabeza de la curva tecnológica
con un software potente, hardware de alto
desempeño y recursos completos para continuar
la educación técnica y el soporte. ■
Para leer un documento sobre actualización de sus
habilidades de ingeniería con NI LabVIEW 7 Express,
visite ni.com/info y use la clave nsi4106.
Nicole McGarry
Gerente de Productos LabVIEW
[email protected]
Recursos
Grupos de Usuarios y Técnicos
Tópicos de Aprendizaje
ni.com/labviewzone
Foros de Discusión
zone.ni.com
Tutoriales en Línea
ni.com/tutorials
Demostraciones en Línea
ni.com/labview
Versión de Evaluación de LabVIEW 7
ni.com/labview
Con NI LabVIEW, puede traducir directamente conceptos de ingeniería tales como diagramas de estado
en código gráfico, así usted se puede enfocar en la ingeniería, no en la programación.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
ni.com/labview
9
Producto en Profundidad
Solucione Retos en Pruebas para Celdas
de Carga con el Nuevo Multímetro PCI
El nuevo PCI-4070 FlexDMM proporciona la
capacidad de un multímetro digital con todas las
funciones, 23-bits, 61⁄2-dígitos y un digitalizador
aislado de alto voltaje de 1.8 MS/s. La familia
NI 4070 FlexDMM – PXI-4070 y PCI-4070 –
suministra flexibilidad, alta resolución, entrada
de alto voltaje, aislamiento e integración con
software de medición tal como LabVIEW 7 Express,
para solucionar retos de aplicaciones tales
como aquellas asociadas con pruebas en celdas
de carga. Adicionalmente, puede usar las
capacidades de multifunción para tomar
mediciones tradicionalmente solo posibles
usando instrumentos especializados.
Innovación en Mediciones para
Pruebas en Celdas de Carga
La investigación y comercialización en celdas
de carga es una aplicación desafiante de pruebas
eléctricas que requiere nuevas combinaciones
de mediciones no posibles con instrumentación
tradicional. Por ejemplo, una caracterización
exacta de estas pilas de celdas de carga requiere
un sistema multicanal capaz de medir pequeños
voltajes en presencia de grandes voltajes en modo
común, hasta varios cientos de voltios. Tomar
estas mediciones de altos voltajes en modo
común puede ocasionar daños al equipo de
prueba, la unidad bajo prueba y también quizás
al operador. Con aislamiento, puede medir
seguramente estos pequeños voltajes en presencia
de grandes señales en modo común.
El NI 4070 FlexDMMs cumple con los
retos para pruebas en celdas de carga y otras
aplicaciones emergentes. Con la capacidad
del digitalizador aislado NI 4070 FlexDMM a
1.8 MS/s, usted puede adquirir tanto voltajes
AC como DC-acoplados y formas de onda de
corriente de hasta ±300 V y ±1 A. Además,
usando LabVIEW 7 Express con esta capacidad
de digitalizador, usted puede usar las funciones
incluidas para analizar transitorios, ondas de
ruido en una membrana de celda de carga u
otras formas de onda no repetitivas de alto
voltaje AC tanto en el dominio del tiempo
como en el de la frecuencia. Para reunir sus
requerimientos específicos de aplicación,
puede ajustar la resolución del FlexDMMs
desde 10 hasta 23 bits simplemente cambiando
la velocidad de muestreo.
La capacidad del multímetro de 61⁄2-dígitos
del FlexDMM es ideal para tomar todas las
mediciones de voltaje, potencia y sensores con
la mejor estabilidad de voltaje y desempeño en
ruido disponible en un multímetro digital de hoy
con un máximo de velocidad de lectura de un
solo punto DC (voltaje, corriente y resistencia)
de 10 kS/s a 41⁄2 dígitos o 15 bits.
Usted puede incrementar rápidamente
la cuenta de canal de estos sistemas de prueba
de celdas de carga a través de conmutación.
El NI FlexDMMs proporciona fuerte integración
con módulos de conmutación de NI y con el
software de administración de conmutación
NI Switch Executive.
Reemplace Instrumentos
Costos y Especializados
Con las capacidades de multifunción del
NI 4070 FlexDMMs, usted puede tomar
mediciones tradicionalmente solo realizadas
usando instrumentos costosos y especializados.
Por ejemplo, aplicaciones tradicionales de
medición de potencia una vez requirieron
un medidor de potencia especializado. Este
dispositivo calculaba la potencia muestreando
simultáneamente la caída de voltaje a través
de las terminales de una carga mientras
simultáneamente media la corriente fluyendo
a través de la carga.
Usando las capacidades del digitalizador
aislado NI 4070 FlexDMM a 1.8 MS/s con las
funciones de análisis de LabVIEW 7 Express,
puede reemplazar este producto especializado
de medición y construir fácilmente un verdadero
sistema de medición de potencia. El sistema
requiere dos NI 4070 FlexDMMs – uno configurado
para medir voltaje y otro para medir corriente.
Puede sincronizar los dos NI 4070 FlexDMMs
configurándolos para compartir el mismo disparo.
El NI 4070 FlexDMM, ahora disponible
tanto para PCI como PXI, suministra la exactitud,
velocidad y flexibilidad para reunir las necesidades
de sistemas de celdas de coarga así como muchas
otras aplicaciones de medición de precisión. ■
Para aprender más sobre el NI 4070 FlexDMM,
visite ni.com/info y use la clave nsi4107.
Los digitalizadores aislados NI PCI y PXI-4070 de 6 1⁄2 -dígitos FlexDMM y 1.8 MS/s proporcionan una resolución
de 6 1⁄2 -dígitos FlexDMM y 1.8 MS/s proporcionan una resolución de 6 1⁄2 -dígitos y frecuencias de hasta 2.7 GHz
en un pequeño paquete.
10
ni.com/modularinstruments
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Mediciones Únicas
Pruebas de Tiempos en Electrónicos
con el Generador de Reloj PXI
Esta serie sobre aplicaciones únicas de
medición resalta como usted puede tomar
provecho de la instrumentación virtual para
lograr avances revolucionarios en medición y
automatización. Esta cuarta aplicación en
la serie discute como puede usar un reloj
programable para crear prototipos y probar
relojes y tiempos en electrónicos.
Con la convergencia de múltiples tecnologías,
los productos electrónicos de consumo se han
incrementado sofisticadamente. Por ejemplo,
algunos teléfonos celulares ahora poseen incluido
radios FM y reproductores MP3. Un reto en el
diseño y prueba de estos dispositivos se relaciona
con las numerosas velocidades de reloj y
especificaciones de temporización requeridas
por cada componente semiconductor en un
diseño. En la electrónica de audio y video,
frecuencias peculiares de reloj como 3.5795 MHz,
48 kHz y 15.73426 kHz son actualmente las
frecuenicas “estándar”. Para hacer las cosas más
difíciles, estos estándares cambian geográficamente y se relacionan con nuevas tecnologías y
mejores técnicas para codificación de información.
Aunque la tecnología de sistemas en chip coloca
una diversidad en incremento de conjunto de
funciones en un solo chip y esconde alguna de
la complejidad de temporización, los ingenieros
en manufactura tratan de diferenciar productos
adicionando características más allá de las que
un solo chip integrado ofrece y combinando
dispositivos que operan a diferentes velocidades
de reloj. Con una resolución en frecuencia de
1.07 µHz, el generador de reloj y frecuencia
NI PXI-5404 suministra una base de tiempo
exacta para probar los complejos circuitos de
temporización en estos diseños.
Dispositivos tales como osciloscopios, ciclos
de fase constante y buffers de reloj le pueden
ayudar a administrar la distribución del reloj,
pero usted debe entender las dependencias de
temporización de cada componente antes de
diseñar un sistema de reloj. Aunque normalmente
puede usar las especificaciones del proveedor
para los componentes, algunas especificaciones
cambian para diferentes frecuencias de entrada.
Además, la temperatura afecta el desempeño
de dispositivos. Por tanto, debe marginar
componentes de prueba para asegurar que
funcionarán adecuadamente una vez integrados
en el diseño.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Puede usar el generador de reloj y frecuencia
NI PXI-5404 en un sistema PXI para incrementar la
resolución de frecuencia de reloj de otros módulos
PXI hasta 1.06 µHz.
Resolución de Alta Frecuencia
para Caracterización Precisa
de Dispositivos
Los barridos de parámetros son normalmente
usados en la caracterización de componentes para
entender el desempeño de cada componente como
una función de un solo parámetro. Es fácil realizar
el barrido sobre un amplio rango de frecuencias
con un generador de ondas típico; sin embargo,
cuando se analiza una pequeña banda de
frecuencias, usted requiere una alta resolución en
frecuencia para atender pequeños incrementos en
frecuencia. El PXI-5404 usa el AD9852 a 48-bits
chip de Analog Devices con síntesis digital directa
(DDS), el cual suministra 1.06 µHz de resolución
en frecuencia para caracterizar de manera precisa
o probar los márgenes de un componente sobre
un estrecho rango de frecuencias. También puede
realizar grandes barridos sobre un gran rango de
frecuencias con el rango de 0 hasta 105 MHz de
frecuencia del generador de reloj y frecuencia
NI PXI-5404. Con alta resolución en frecuencia,
usted puede probar sus diseños de audio y video
antes que la circuitería de distribución de reloj se
complete emulando las frecuencias “estándares”
que la circuitería de reloj suministrará.
Controlando la Inclinación en
la Prueba de Dispositivos con
Reloj Múltiple
En los diseños electrónicos de hoy, todos menos
los sistemas más simples requieren más de una
frecuencia de reloj. Para determinar la inclinación
y requisitos de margen en frecuencia para la
circuitería de distribución de reloj, usted puede
usar múltiples generadores de reloj y frecuencia
NI PXI-5404. Puede encadenar la fase del
generador de reloj y frecuencia NI PXI-5404 al
reloj de referencia de 10 MHz suministrado por el
chasis PXI o usar una referencia externa de alta
estabilidad. Con los generadores NI PXI-5404
con fase constante, puede ajustar la salida en
frecuencia e inclinación de cada señal de reloj
independientemente, dándole la flexibilidad
requerida para probar los diseños. Además, puede
fijar los niveles de voltaje de salida del reloj a
5.0 V, 3.3 V y 0.8 V para acomodarse a diferentes
familias lógicas.
Ya que el PXI-5404 emplea lo último en
tecnología comercial de semiconductores, puede
obtener control preciso de la salida de frecuencia.
Con la sincronización de PXI, puede crear
prototipos y probar las señales complejas de
reloj usadas en los diseños de hoy. ■
Para aprender como NI está acelerando los
diseños en la manufactura de tecnologías
convergentes, vea la página 28.
Para ver una librería de otras mediciones únicas,
visite ni.com/info y use la clave nsi4108.
Para aprender más sobre el generador de reloj
y frecuencia PXI-5404, visite ni.com/info y use
la clave nsi4109.
ni.com/pxi
11
Productos en Profundidad
NI Incrementa la Densidad de Conmutación por un Factor de Cuatro
NI ha incrementado su ofrecimiento en producto
de conmutación en todas las categorías en el
2003, incluyendo el ofrecimiento de nueve
nuevos módulos que soportan más de 36 nuevas
tecnologías. Con un 433% de incremento en la
densidad de matriz PXI y un 300% de incremento
en la densidad del multiplexor SCXI, ahora puede
usar la conmutación de NI en aplicaciones de alta
cuenta de canal, dándole miles de canales en un
solo chasis PXI a un precio económico. En general,
la línea de productos de conmutación de NI se
caracteriza por 67 topologías de conmutación,
23 módulos de conmutación, anchos de banda
de conmutación desde DC hasta 18 GHz y una
fuerte integración con NI LabVIEW 7 Express,
NI TestStand 3.0, NI LabWindows/CVI 7.0 y el
software de administración de conmutación líder en
la industria, NI Switch Executive 1.0.2. Además de
las conmutaciones de alta corriente y de propósito
general NI PXI-2566 y NI SCXI-1166 y de las conmutaciones NI PXI-2593 y NI SCXI-1193 500 MHz
RF lanzadas en Julio, ahora puede aprovechar los
nuevos multiplexores de alta densidad, matrices
y controladores de relevadores para reunir sus
necesidades de pruebas automatizadas.
Soluciones de Conmutación
de Alta Densidad
Los nuevos NI PXI-2530 y NI SCXI-1130 son
multiplexores/matrices multiconfigurables de alta
densidad. Con más de 14 posibles topologías y
múltiples opciones de expansión, estos módulos
ofrecen una solución excelente para sistemas de
cuentas de canal grandes o complejos. Diseñados
como multiplexores de un cable ofreciendo la
velocidad de leer relevadores, estos módulos
son los dispositivos de uso final perfectos para
dispositivos de medición de alta velocidad, tal
como el NI PXI-4070 FlexDMM de 61⁄2-dígitos,
en aplicaciones como pruebas de ECU o IC.
Nombre del Módulo
Matriz de configuración múltiple
de alta densidad NI PXI-2529
Matriz de configuración
múltiple/multiplexión de alta
densidad NI PXI-2530
Otro nuevo módulo, la
matriz de multiconfiguración de
alta densidad, el NI PXI-2529
ofrece 128 puntos cruzados,
matrices de dos puntos en
módulos de una sola ranura 3U
PXI – incrementando la densidad
de matriz PXI en un 433% sobre
NI extiende el ancho y densidad con nueve nuevos módulos en el 2003.
la anterior disponible. Con estos
nuevos módulos y con NI Switch Executive, ahora
relevadores usados en un sistema. Puede leer la
puede crear una plataforma de prueba expandible
información de conteo de relevadores a través
involucrando múltiples instrumentos modulares
del software y usarla para ayudarle a predecir
en el mismo chasis PXI.
cuando un relevador se acerca al final de su vida
Dos nuevos módulos de control de relevadores
útil, así puede reemplazarlo proactivamente.
de multipropósito de 64 canales, el NI PXI-2567 y
el NI SCXI-1167, pueden controlar varios tipos de
Soporte de Escaneo Determinístico
relevadores externos. Un controlador de relevadores
Maximiza el Rendimiento
es la opción ideal cuando los requerimientos de
Rendimiento máximo es una solicitud común en las
corriente y voltaje para relevadores exceden aquellos
aplicaciones de prueba automatizadas. Para mejorar
encontrados en módulos existentes de relés o
el rendimiento de un sistema, todos los nuevos
cuando necesita controlar relés embebidos en un
módulos de conmutación de NI soportan escaneo
sistema de prueba. Estos módulos pueden controlar
por disparo de hardware. El escaneo de disparo
conmutaciones externas de alta corriente, alto
por hardware incluido mejora el rendimiento al
voltaje o RF multi polo. Como otros switches de
descargar una lista de conexiones a los módulos de
NI, los módulos de relevadores usan el software
conmutación y ciclando a través de la lista usando
controlador NI-SWITCH, así puede programar
un evento (disparo) sin ninguna interrupción del
relevadores externos conectados al controlador
procesador host. Esto hace a su secuencia de prueba
de relevadores de forma idéntica a los productos
altamente determinística, asegurando fuerte
de conmutación NI PXI y SCXI.
sincronización entre los dispositivos de medición
y la conmutación.
Confiabilidad Superior, Determinismo
NI construyó sus nuevos módulos de conmutación
en base a una arquitectura común que le ofrece
conteo de relevadores, escaneo determinístico,
características de seguridad y otros beneficios.
Mantenimiento Preventivo
de Relevadores
Todos los nuevos módulos de conmutación de
NI registran y guardan el número de ciclos de
Voltaje Máximo
150 VDC, 150 Vrms
Corriente Máxima
1A
Topologías
Matriz: 4x32 de 2 cables, 8x16 de 2 cables
60 VDC, 30 Vrms
400 mA
Matriz de configuración
múltiple/multiplexión de alta
densidad NI SCXI-1130
60 VDC, 30 Vrms
400 mA
Controlador de relevadores
externo NI PXI-2567
Controlador de relevadores
externo NI SCXI-1167
50 VDC
600 mA
50 VDC
600 mA
Mux: 128x1 de 1 cable, 64x1 de 2 cables,
32x1 de 4 cables, 8 bancos de 16x1 de 1 cable,
Matriz: 4x32 de 1 cable, 8x16 de 1 cable,
4x16 de 2 cables
Mux: 256x1 de 1 cable, 128x1 de 2 cables,
64x1 de 4 cables, 16 bancos de 16x1 de 1 cable,
Matriz: 4x64 de 1 cable, 8x32 de 1 cable,
4x32 de 2 cables
Controla 64 relevadores no aislados
o 32 aislados (de 2 bobinas)
Controla 64 relevadores no aislados
o 32 aislados (de 2 bobinas)
Cinco nuevos módulos de conmutación de NI suministran 20 nuevas topologías para darle una
máxima flexibilidad de sistema.
12
Switches de NI Probados
para Durabilidad y Seguridad
Cada diseño de conmutación de NI pasa a través
de una prueba de vida altamente acelerada (HALT),
un proceso de prueba de alta calidad que aplica
estrés en un producto más allá del envío normal,
almacenamiento y niveles de uso para determinar
y corregir debilidades de producto. Estos nuevos
módulos de conmutación también reúnen todas
las regulaciones CE. Todos los módulos de alto
voltaje superior a 60 VDC o 30 VAC son certificados
por una tercera organización de seguridad,
proporcionando un nivel adicional de seguridad. ■
Para aprender más sobre los nuevos módulos
de conmutación o ver toda la línea de productos
de conmutación de NI, visite ni.com/info y use
la clave nsi4110.
ni.com/switches
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Productos en Profundidad
Conecte Sus Diseños a LabVIEW con Tres Nuevos Toolkits
NI lanzó recientemente tres toolkits de LabVIEW
que le ayudan a integrar diseños y simulación
a las pruebas. Con los Math Interface Toolkit,
Simulation Integration Toolkit 2.0 y el DSP Test
Integration Toolkit 2.0 de NI para LabVIEW, ahora
puede conectar señales del mundo real y simuladas
con las herramientas líderes de diseño como
The MathWorks MATLAB® y Simulink® y Code
Composer Studio de Texas Instruments. Estos
toolkits logran una interacción más transparente
entre las herramientas que usa para diseñar y
probar productos.
Los productos diseñados, sin importar que
sean implementados en un procesador embebido,
un PCB o un motor de automóvil, usualmente
inician en algún tipo de herramienta de software
de diseño. El proceso de desarrollo de un producto
involucra múltiples interacciones donde usted
desarrolla, simula, analiza y prueba un modelo
de software o prototipo.
La instrumentación virtual puede de forma
singular proporcionar una fuerte integración
entre sus herramientas de diseño y análisis y sus
requerimientos de prueba. Aunque actualmente
usted puede compartir datos entre LabVIEW y
herramientas de diseño como Ansoft Designer,
simuladores SPICE y MSC.ADAMS usando
formatos estandarizados de archivos, los toolkits
Math Interface, Simulation Integration Toolkit 2.0
y DSP Test Integration Toolkit 2.0 para LabVIEW
ofrecen una fuerte integración al poder controlar
directamente la ejecución de programas e
intercambiando datos desde una aplicación a
otra. Estos toolkits de NI conectan a LabVIEW
con herramientas de matemática, control y diseño
embebido y reducen la cantidad de tiempo que
invierte en depuración, pruebas y validación de
prototipos para ayudarle a entregar productos
más rápido.
Math InterfaceToolkit 1.0 para
The MathWorks MATLAB
Ahora usted puede compilar cualquier VI de
LabVIEW dentro de una función MEX para
uso nativo en MATLAB con el nuevo NI Math
Interface Toolkit 1.0 para MATLAB. El nuevo
juego de herramientas también incluye una
librería de funciones MEX para adquisición de
datos común y para usuarios actualmente usando
MATLAB. Usando estas funciones usted puede
aprovechar la interfase robusta de LabVIEW y
del hardware de NI que trae E/S del mundo real
directamente a el ambiente MATLAB.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Simulation Interface Toolkit 2.0
para The MathWorks Simulink
Con el nuevo NI Simulation Interface Toolkit 2.0,
ahora puede tomar cualquier objeto del panel
frontal de LabVIEW y conectarlo a variables de
su modelo Simulink usando un administrador
interactivo de conexión. El administrador de
conexión entonces puede generar código LabVIEW
para ver y controlar datos en el modelo Simulink.
El nuevo Simulation Interface Toolkit 2.0 también
descarga transparentemente el modelo Simulink a
un objetivo LabVIEW Real-Time así su simulación
puede correr en tiempo real mientras se integra
con hardware de E/S. Conectando su modelo
Simulink a hardware de E/S, usted puede construir
rápidamente prototipos de control o de hardware
en el ciclo y modificar parámetros mientras corre
el modelo para investigar el impacto que cada
parámetro tiene sobre el desempeño del sistema.
DSP Test Integration Toolkit 2.0
para Texas Instruments DSP
El nuevo NI DSP Test Integration Toolkit 2.0
para TI DSP ahora incluye un ejecutable de
LabVIEW que corre en conjunto con Code
Composer Studio y despliega y controla datos
hacia y desde el DSP. Este ejecutable suministra
controles e indicadores preconfigurados que se
comunican al DSP a través del protocolo de
comunicación Texas Instruments Real-Time Data
Exchange (RTDX) y hace depuración y validación
de código DSP solo con un clic de mouse. Para
personalizar su visualización de datos dentro del
ambiente de desarrollo LabVIEW, puede usar
VIs RTDX para elaborar la comunicación entre
LabVIEW y su tarjeta DSP. Adicionalmente,
puede completar su sistema de depuración DSP
conectando LabVIEW a un amplio rango de
instrumentos incluyendo generadores de señal,
digitalizadores y conmutaciones. ■
Para mayor información sobre conexión de
LabVIEW con cualquiera de estas herramientas
u otras como Ansoft Designer, MSC.ADAMS,
simuladores SPICE/PSpice o Mathematica,
visite ni.com/info y use la clave nsi4111.
Simulación
Diseño
Prueba
Análisis
NI y Clientes Mejoraron
MATRIXx con la Nueva
Versión 6.3
En el 2003, NI adquirió la línea de producto
MATRIXx, un conjunto de software diseñado
para simulación dinámica, diseño de control,
validación de sistema, modelación y análisis
y visualización de datos. En respuesta a la
retroalimentación de los clientes actuales, los
integradores de sistemas y expertos de la
industria, NI saca al mercado MATRIXx 6.3.
Esta nueva versión corre en Windows 2000/XP
y Solaris 9, y proporciona muchas actualizaciones adicionales y perfeccionamientos a
la versión anterior tales como visualización
mejorada de datos, ayuda más comprensiva y
mejor modulación de modelos en SystemBuild.
Construida bajo la sólida arquitectura 6.2,
MATRIXx 6.3 proporciona tanto compatibilidad hacia versiones anteriores como
futuras para asegurar facilidad de transición
para los sistemas existentes. ■
Para mayor información sobre MATRIXx 6.3
y para descargar un software de evaluación
GRATIS, visite ni.com/info y use la
clave nsi4112.
MATLAB® y Simulink® son marcas registradas de The MathWorks, Inc.
ni.com/design
13
Enfoque
Añada Análisis a Sus Aplicaciones – Ph.D. no es Necesario
Para proveer visualización de datos en tiempo
real, soportar toma de decisiones en tiempo
real y darle la habilidad de determinar si una
condición particular de prueba pasa o falla,
muchas aplicaciones de LabVIEW necesitan
capacidades de análisis. Sin embargo, seleccionar
el algoritmo o función correcta no siempre es
fácil. Antes de LabVIEW 7 Express, usted necesitó
un entendimiento sofisticado de los algoritmos
subyacentes para seleccionar las funciones
correctas de análisis. Hoy, usando los nuevos
VIs en NI LabVIEW 7 Express, puede construir
funciones – desde mediciones espectrales y
de distorsión hasta ajuste de curvas y filtrado
digital – correctas dentro de aplicaciones
existentes y nuevas en LabVIEW. Los nuevos
VIs Express simplifican este proceso reduciendo
el cableado y suministrando diálogos interactivos
que le ayudan a visualizar las selecciones
correctas de configuración para su aplicación.
Dieciséis nuevos VIs Express de análisis en
LabVIEW 7 agrupan entre sí las funciones más
comúnmente usadas para análisis, procesamientos
de señal y funciones matemáticas.
No tiene que cablear múltiples constantes y
controles para definir lo que deben hacer estos
VIs. En cambio, usted extrae la información desde
las señales adquiridas mediante configuración
interactiva de estos nuevos VIs para ver
inmediatamente como afectan los datos que
usted adquiere.
Las Medidas Espectrales
Muestran Contenido de
Frecuencia
El nuevo VI Express de medición espectral de
LabVIEW suministra todas las herramientas
necesarias para analizar el contenido espectral
de señales. Ofrece funciones típicas tales como
magnitud (pico y rms), potencia espectral y fase.
Este VI Express también incluye herramientas
para asegurar que los resultados sean exactos.
En aplicaciones prácticas, usted solo obtiene
un número finito de muestras de la señal. Para
descomponer la señal en términos de senoidales
de largo infinito, el FFT extiende implícitamente
el registro de tiempo finito repitiéndolo de forma
periódica. Si sus datos muestreados no contienen
exactamente un ciclo de una señal periódica
subyacente, la propiedad de extensión periódica
del FFT puede producir discontinuidades
artificiales en las fronteras de los datos
14
muestreados. Estas discontinuidades resultan
en fugas espectrales, o una mancha de energía
desde su frecuencia actual para todas las otras
frecuencias. Ya que la fuga espectral cambia
la amplitud y frecuencia de medición, debe
minimizar este efecto para asegurar mediciones
espectrales exactas. Puede aprovechar los nueve
algoritmos de ventanas en el VI Express de
medición espectral para reducir la fuga espectral.
Este VI también incluye la opción de realizar
promedios con cada marco adicional de su señal.
El promedio espectral es una herramienta crítica
para reducir los efectos aleatorios que el ruido
tiene en sus mediciones de frecuencia. Aplicando
promedios, usted asegura que un ambiente de
medición con ruido no afecte adversamente el
análisis que realiza en la señal.
VI Express de Medición Espectral
Mediciones de Distorsión
Cuantifican la Calidad de Señal
El nuevo VI Express de medición de distorsión
en LabVIEW calcula la señal en ruido y distorsión (SINAD) y el total de distorsión armónica
(THD). Estas mediciones estándares le ayudan a
cuantificar la calidad de una señal o la linealidad
de un sistema. SINAD tiene en cuanta los efectos
tanto del ruido como de armónicos en la señal
de interés. La distorsión pura ocurre debido a los
elementos no lineales en sistemas electrónicos
donde las señales son amplificadas o manipuladas
de otras formas. Estas no linealidades resultan en
armónicos que crean características no deseadas
en la señal, desde cambios imperceptibles en las
formas de onda senoidales en el dominio del
tiempo hasta serias deformaciones de la señal
asociada con rango de sobrecarga o recorte
de señal.
La función THD suministra la distorsión
total, o la proporción en porcentaje de la suma
de rms de todos los armónicos a la amplitud rms
de la señal fundamental. Además, el VI Express
de mediciones de distorsión puede encontrar el
nivel de un armónico particular e incluso buscar
por una frecuencia particular dentro de un
porcentaje del rango de frecuencia. A medida
que usted configura esta función, puede ver una
vista previa de la señal resultante en el diálogo
de configuración.
Las aplicaciones típicas para esta función
incluyen el análisis de fidelidad de sonido de
amplificadores y equipos de grabación, pruebas de
paso-falla de transmisión de audio en teléfonos
VI Express de Ajuste de Curva
celulares y generalmente cualquier prueba
para no linealidades en una ruta de señal.
El Ajuste de
Curva Matemáticamente
Modela Señales
El nuevo VI Express de ajuste de curva en
LabVIEW suministra una forma interactiva de
encontrar un modelo matemático para una señal
adquirida ajustando una curva a esta. Esta
función incluye múltiples modelos lineales así
como también modelos no lineales. Dependiendo
del algoritmo que seleccione, el resultado
varía en exactitud y necesidades de recursos
computacionales. El modelo lineal es el más
simple y encuentra el mejor ajuste para los
puntos de datos usando una línea recta entre
ellos. El modelo cuadrático emplea polinomios
de segundo orden y trabaja mejor cuando los
datos adquiridos contienen elementos cuadráticos.
El modelo spline emplea polinomios de tercer
orden y también es conocido como spline
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
e Especial
El Filtrado Elimina
Elementos No
Deseados en
la Señal
VI Express de Medición de Distorsión
VI Express de Filtros
cúbico. Este modelo es apropiado para suavizar
datos adquiridos.
El modelo polinomial es más flexible en
el sentido que puede seleccionar el orden del
polinomio de ajuste. El siguiente nivel de complejidad de modelo, y usualmente más exacto,
viene con cuadrados menores generales, lo cual
es una combinación lineal simple de funciones
que usted especifica. Finalmente, el modelo no
lineal es la selección más flexible. Debe usarlo
cuando su modelo es una función tanto de
una variable independiente (x) y parámetros
adicionales (b) que introducen no linealidad
cuando se evalúan. Un ejemplo es el modelo
no lineal y = a sin (bx) donde usted encuentra
coeficientes a y b.
Este nuevo VI Express regresa el mejor
ajuste, así como también los elementos residuales
desde la señal y el promedio del error al
cuadrado. De esta manera puede determinar
la validez del modelo y asegurar la exactitud
de cálculos subsecuentes.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Los filtros digitales son
una de las herramientas
más frecuentemente usadas
en procesamiento de
señales ya que suministran
mecanismos poderosos
para eliminar partes
indeseadas de una señal.
El nuevo VI Express para
Este diagrama de bloques de LabVIEW ilustra el uso de cuatro nuevos
filtros de LabVIEW puede
VIs Express para eliminar ruido no lineal.
configurar filtros pasa
bajo, pasa alto, pasa
banda, detención de banda y smoothing. Puede
Además, usted desea limpiar la señal para
configurar rangos de corte, número de tapas
verificar que en efecto incluye la frecuencia
para filtros de respuesta finita de impulso
deseada. Puede lograr esto aplicando un filtro
(FIR), orden para filtros de respuesta infinita de
pasa banda con una frecuencia de corte baja de
impulso (IIR) y topología de filtros como filtros
80 Hz y una frecuencia de corte alta de 110 Hz.
Butterworth y Elíptico. En la ventana de la caja
Para obtener el espectro, puede usar el VI Express
de configuración del VI Express de filtros, puede
de medición espectral de LabVIEW para aplicar
ver la señal de entrada como se adquirió y una
promedios y disminuir significativamente el
vista previa de la señal resultante después del
ruido de piso.
filtrado. Con este VI Express, puede probar
Aquí solo hablamos de cuatro de los 16
diferentes tipos de filtros y configurar mediante
nuevos VIs Express de análisis disponibles en
la vista previa la respuesta en frecuencia del
LabVIEW 7 Express. Con estos VIs, puede hacer
filtro. Los beneficios de esta manera interactiva
rápidamente aplicaciones prototipo donde adquirir
para configurar los filtros es que usted no
y entender la señal sea esencial, independientenecesita entender las diferencias entre ellos
mente de su familiaridad con los algoritmos.
para lograr los resultados deseados.
Usando los VIs gráficos, puede realizar algoritmos
Ejemplo: Removiendo Ruido
No Lineal
El siguiente diagrama de bloques de LabVIEW
representa una aplicación que usa cuatro de todas
las funciones. En este caso, usted tiene una señal
de ruido de 100 Hz con no linealidades que
produce armónicas a 200 Hz. La combinación
de ruido y armónicas no deseados resulta en
una calidad de señal pobre, como se refleja en
los valores SINAD y THD obtenidos desde el
VI Express de medición de distorsión en LabVIEW.
El objetivo es obtener un modelo que
represente el sistema con el fin de modificarlo
y eliminar los elementos que causan las no
linealidades. Puede lograr esto usando el
VI Express de ajuste de curva en LabVIEW, el
cual le da correctamente los coeficientes para
el modelo. Los valores indican el siguiente
polinomio: 0.4x2 + 0.25x + 2.
de análisis avanzado y de procesamiento de señal
a medida que adquiere los datos, obteniendo por
tanto retroalimentación inmediata. Finalmente, a
través de la interfase basada en configuración de
los VIs Express, puede ver los efectos que esos
algoritmos tendrán en sus datos antes de ejecutar
incluso el programa. ■
Para aprender más sobre las funciones de
análisis en LabVIEW, visite ni.com/info y use
la clave nsi4113.
Gricha Raether
Gerente de Productos LabVIEW
[email protected]
ni.com/analysis
15
Productos en Profundidad
Adquiera Datos Hasta 1,000 Veces más Rápido con NI-DAQ 7
Las interfases para programación de aplicaciones
(APIs) concisas y poderosas tales como NI-DAQ 7
ayudan a los desarrolladores de aplicación a
ahorrar tiempo. Con NI-DAQ 7, usted puede
desarrollar aplicaciones rápidamente y construir
una aplicación con solo unas pocas funciones
intuitivas. Cuando los desarrolladores de software
de NI fijaron los objetivos de diseño para NI-DAQ
7 hace ya más de tres años, fue un cambio radical
de los APIs controladores de DAQ anteriores.
El equipos de desarrolladores de software de NI
buscó simplificar el desarrollo de aplicaciones
de medición para los clientes creando pocas
funciones de NI-DAQ 7 que lograran lo que las
anteriores habrían requerido hasta miles de líneas
de código. Ahora, con NI-DAQ 7 y el hardware de
adquisición de datos que pudo haber comprado en
el pasado, puede adquirir datos hasta 1,000 veces
más rápido que antes.
NI-DAQ incluye siete nuevas características
para adquisición y medición de datos que
mejoran la facilidad de uso y el desempeño:
1. DAQ Assistant o Asistente de DAQ
El DAQ Assistant suministra una guía
paso por paso para configuración, prueba y
programación de mediciones. En el DAQ
Assistant, usted fija la velocidad de muestreo,
el número de muestras, la información de
disparo y muchas otras propiedades de
medición. Entonces, cuando cierra la interfase
de usuario interactiva del DAQ Assistant,
puede usarla como una función programable
dentro de su aplicación. Finalmente, con el
DAQ Assistant puede generar automáticamente
código para personalización de bajo nivel.
Junto con otros asistentes interactivos en
NI LabVIEW 7 Express, LabWindows/CVI 7.0
y Measurement Studio 7.0, DAQ Assistant
se caracteriza por la facilidad de uso y
la habilidad de llevarlo a tomar
mediciones rápidamente.
2. Canales y Tareas Virtuales
Listas para la Medición
Un canal físico es una terminal o pin desde el
cual puede medir o generar una señal análoga
o digital. Por ejemplo, un solo canal físico
puede incluir más de un terminal, como
es el caso de un canal análogo de entrada
diferencial o de un puerto digital de ocho
líneas. En contraste, un canal virtual es un
componente de software dentro de NI-DAQ 7
que encapsula el canal físico junto con
16
otra información
Un solo hilo
específica del canal –
rango, configuración
de terminal, escalas
Multi hilo
personalizadas y
otras. Usando canales
virtuales, puede hacer
su código mucho
Esperar Dato – Bloque
Leer Datos Análogos
más breve y también
Escribir Datos Digitales
Esperar Dato – Intersección
puede simplificar
enormemente el
Un controlador multihilo mejora drásticamente el desempeño.
desarrollo de aplicaciones.
NI-DAQ 7 viene preconfigurado
con más de 20 canales virtuales listos para
Puede observar el diagrama de tiempo
medición. Puede configurar estos canales
para una aplicación de adquisición de
virtuales para correr unidades de medición
datos multihilo simple y una sin multihilo
del mundo real y entonces permitir que el
en la figura de abajo. El beneficio para el
NI-DAQ 7 configure automáticamente su DAQ
programador en LabVIEW, LabWindows/CVI y
y el hardware de acondicionamiento de señal
Measurement Studio es que NI-DAQ 7 puede
para tomar la medición.
ejecutar múltiples operaciones de E/S para un
Cuando crea canales virtuales con el
programa en múltiples hilos, lo cual maximiza
DAQ Assistant, puede usarlos en otras tareas
la velocidad de E/S y el ancho de banda.
y referenciarlos más tarde en su aplicación.
Por ejemplo, una tarjeta DAQ típica de alto
Una tarea es una colección de uno o más
desempeño de la Serie E posee seis tipos de
canales virtuales, con temporización, disparo
operaciones de E/S: entrada análoga, salida
y otras propiedades. Abstraer operaciones de
análoga, entrada digital, salida digital, entrada
medición a canales y tareas virtuales reduce
de contador y salida de contador. Con las
la complejidad de las aplicaciones de medición
capacidades de E/S multihilo de NI-DAQ 7,
y control, dándole el poder de desarrollar sus
usted puede controlar automáticamente estas
aplicaciones más rápido.
operaciones de E/S concurrentemente usando
3. Ganancia en Desempeño
de Hasta 1,000 Veces
con Operaciones
de E/S Multihilo
NI diseñó NI-DAQ 7 para que múltiples
tareas puedan correr al mismo tiempo.
Cada tarea puede existir en un hilo separado,
así múltiples tareas DAQ pueden correr
simultáneamente sin interferir con las otras.
Todos los programas se componen de una o
más hilos que definen el flujo de ejecución.
En un programa de un solo hilo, todas las
operaciones deben correr en secuencia y
esperar que la operación precedente finalice.
En contraste, en una aplicación de adquisición
de datos multihilo usando NI-DAQ 7, una
tarea de E/S tal como una entrada análoga
inicia y entonces duerme, esperando que se
recolecten los datos desde un buffer en la
tarjeta. Durante el tiempo que duerme, la
tarea de entrada análoga cede el proceso a
otra tarea de E/S como una operación de
entrada digital.
hilos. No requiere ser un experto en programación de bajo nivel, ya que NI-DAQ 7 realiza
esta programación por usted. Debido a esto,
puede acelerar dramáticamente el desempeño
de sus operaciones de E/S.
En el pasado, pudo haber experimentado
lo que normalmente se refería como un
“bloqueo,” cuando una función de forma
de onda de entrada análoga se ejecutaba e
impedía que otras operaciones se completaran.
Ahora, con NI-DAQ 7, sus programas con
múltiples operaciones de E/S automáticamente
corren con capacidad multihilo, removiendo
los efectos de bloqueos. Para demostrar las
ganancias en desempeño de multihilo, los
ingenieros de aplicación de NI desarrollaron
un programa que controla concurrentemente
una operación de entrada digital y entrada
análoga. El programa muestra una ganancia
dramática en desempeño para NI-DAQ 7 sobre
versiones anteriores. Pruebas internas de
productos de NI muestran un incremento de
hasta 1,000 veces en la velocidad cuando se
lee una línea de entrada digital mientras se
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Productos en Profundidad
adquieren 10,000 muestras de entrada análoga
por segundo.
4. Ganancia en Desempeño de
Hasta 20 Veces en Operaciones
de un Solo Punto
El software controlador NI-DAQ proporciona
mediciones de alto desempeño para un solo
punto y E/S de forma de onda. Adquirir
puntos simples de datos en un ciclo de control
requiere muchos accesos rápidos a registro.
Ahora NI-DAQ 7 optimiza estos accesos a
registro para que pueda desarrollar entradas
de un solo punto que corren hasta 50 kHz, 20
veces más rápido que las versiones anteriores.
Configure y pruebe sus mediciones con el
NI DAQ Assistant.
5. Ruteo de Señales de
Temporización y Disparo
Automatizado
Cuando se realiza múltiples operaciones de
medición, debe conocer la relación de tiempo
y fase entre entradas y salidas. NI-DAQ le
ayuda fácil y rápidamente a compartir reloj y
disparo en tarjeta para que así la relación de
tiempo y fase esté sincronizada a través de
dispositivos de medición. NI-DAQ incluye un
motor de enrutamiento y sincronización que
completa automáticamente las rutas dentro de
su dispositivo y a través del bus de disparo
RTSI o PXI. Puede accesar fácilmente el motor
de enrutamiento asignando operaciones de
disparo dentro del DAQ Assistant.
entrada análoga, usted conoce inmediatamente
como controlar un temporizador contador.
Debido a esto, usted logra un API más conciso
que realiza desarrollo de aplicaciones de
medición más fácil y productivamente.
7. Detección de Errores
Cuando se desarrolla una aplicación
de adquisición de datos, determinar la
localización exacta de un error puede
mejorar dramáticamente el tiempo de
desarrollo. NI-DAQ posee una arquitectura
completa para reportar errores y avisos de
precaución en su aplicación DAQ. Cada
mensaje de error le dice exactamente que
función o VI retorno el error, la razón
específica de este y la solución que le puede
ayudar a encontrar y solucionar el error
mucho más rápidamente.
6. Funciones Adaptivas
NI-DAQ usa un solo conjunto de VIs para
adquirir entradas análogas y digitales,
generación de formas de onda y controlar
temporizadores contadores. Use las mismas
funciones de alto nivel para cada tipo de E/S.
Una vez que ha aprendido como adquirir una
NI Measurement Studio 7.0
para Microsoft Visual Studio .NET 2003
NI LabVIEW NI LabWindows/
Visual Basic
7 Express
CVI 7.0
C# C++
.NET
1. DAQ Assistant
2. Canales Virtuales
3. E/S de multihilo
4. E/S de puno único
5. Enrutado automático de señales
de temporización y disparo
6. Funciones polimórficas
7. Detección de errores detallada
8. Análisis transparente de mediciones
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El software controlador de hardware
de adquisición de datos es un componente
frecuentemente olvidado o pasado por alto
en un sistema de medición. Sin embargo,
con un API controlador de adquisición de
datos conciso, usted puede hacer más con
menos código y más rápido. Globalmente,
la prueba verdadera de un ambiente de
desarrollo de aplicación, tal como LabVIEW,
LabWindows/CVI o Measurement Studio y
sus controladores complementarios tales
como NI-DAQ 7, es qué tan bien usted puede
desarrollar nuevas aplicaciones más rápido
y resolver problemas imprevistos. ■
Para descargar un documento sobre NI-DAQ 7
y ver un video de demostración, visite ni.com/info
y use la clave nsi4114.
John Hanks
Director de Medición
[email protected]
Jace Curtis
Gerente de Productos DAQ
[email protected]
✓
Use NI DAQ 7 para realizar un desarrollo más rápido y para incrementar el desempeño de
E/S de todos los productos DAQ tipo PCI y PXI de National Instruments.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
ni.com/dataacquisition
17
Productos en Profundidad
Dos Nuevos Toolkits Incrementan las
Capacidades de Análisis de LabVIEW
Añadiendo a las cientas de funciones de
procesamiento de señal y funciones matemáticas
disponibles en LabVIEW 7 Express, NI introduce
dos nuevos toolkits diseñados especialmente para
pruebas RF y de comunicación – el Spectral
Measurements Toolkit y el Modulation Toolkit.
Estos toolkits le ofrece a los ingenieros
herramientas para realizar análisis de espectro,
modulación análoga y digital y herramientas
para complementar el hardware de análisis de
señal RF existente de National Instruments para
uso en aplicaciones de comunicación.
diferentes tipos de ventanas y mediciones
espectrales tales como potencia en banda, ancho
de banda ocupado, frecuencia pico y mediciones
de potencia. Para simplificar la implementación,
esta versión incluye más de 50 ejemplos para
mediciones tales como desviación de frecuencia,
índice de modulación, CCDF, ruido de fase y
generación de señales AM, FM y PM.
El Toolkit de Modulación Añade
Funcionalidad de Análisis
de Comunicación
Los ingenieros usan el Modulation
Toolkit de LabVIEW en diseño de
sistemas de comunicación para generar
Use los nuevos toolkits de LabVIEW para
y analizar señales moduladas
aplicaciones que requieren capacidades
directamente. El toolkit soporta los
de modulación y demodulación digital,
esquemas de modulación usados más
mediciones en el dominio de la frecuencia comúnmente, como M-ary PSK, FSK,
QAM y MSK en modo diferencial, offset
y otras funciones especializadas.
y desplazado. Puede usar estos modos
para generar y analizar señales en
formatos incluyendo Pi/4 DQPSK, 64-QAM y
El Toolkit para Mediciones
GMSK. Ya que el toolkit suministra funciones
Spectrales Amplía las
para añadir deterioros como desequilibrios IQ a la
Capacidades de RF
señal de modulación de banda base, usted puede
El Toolkit NI Spectral Measurements 2.0 para
representar el desempeño del dispositivo bajo
LabVIEW y LabWindows/CVI añade varias nuevas
prueba en modo de recibo.
funciones de análisis, incluyendo generación de
Este toolkit es adecuado para simular los
señales y análisis AM, FM y PM, así como también
efectos de ruido gaussiano blanco aditivo (AWGN),
la habilidad de convertir hacia arriba y hacia
interfases multitono y varios tipos de perfiles de
abajo señales desde bandas base a frecuencias
decaimiento en señales generadas. Para análisis
intermedias. También entrega algoritmos para
de señal, el toolkit contiene funciones para
desempeñar FFT en rangos de frecuencia
mediciones de alto desempeño tales como
especificados por el usuario, promedios espectrales,
magnitud de vector de error
(EVM), offset en fase y
frecuencia, desequilibrio IQ,
inclinación de cuadratura y
mediciones de temporización de
estallido en señales demoduladas.
El toolkit también extiende las
herramientas de visualización
disponibles en LabVIEW
adicionando el diagrama de ojo,
trama de constelación, diagrama
de Trellis y gráfica 3D de IQ.
Despliegue diagramas 3D IQ en sus interfases de usuario.
gran desempeño y flexibilidad cuando se comparan
con los instrumentos tradicionales. El Spectral
Measurements Toolkit ofrece varios FFTs de alto
desempeño para mediciones en el dominio de la
frecuencia y algoritmos para realizar modulación
y demodulación digital mientras se mantiene el
portador símbolo y candado de frecuencia. Estos
algoritmos altamente optimizados, acoplados con
el poder computacional disponible comercialmente
en computadoras, resultan en análisis de medición
acelerados de entre 10 hasta 50 veces más rápido
que aplicaciones usando instrumentos tradicionales
y dándole la flexibilidad de crear un sistema
personalizado. Además de las mediciones en el
dominio de la frecuencia tales como potencia
en banda de señal portadora RF, puede ampliar
sus aplicaciones para incluir mediciones THD
y SINAD en la propia señal de mensaje.
Puede usar estos nuevos toolkits de
NI LabVIEW para aplicaciones que requieren
capacidades de modulación y demodulación
digital, mediciones en el dominio de la frecuencia,
pruebas de componentes RF en dispositivos
tales como osciladores controlados por voltaje
(VCOs) y sintetizadores de frecuencia y en
aplicaciones de investigación en nuevos
estándares de comunicación digital. ■
Para descargar la hoja de datos para estos
toolkits, visite ni.com/info y use la clave nsi4115.
Acelere el Análisis
de Medición por un
Factor de Hasta 50
Analice la calidad de su equipo de comunicación a través de tramas de
constelación basadas en LabVIEW como se despliega en esta 64 QAM.
18
El Spectral Measurements Toolkit
y el Modulation Toolkit entregan
ni.com/analysis
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Controladores de Instrumentos
El Nuevo .NET Wizard Protege Inversiones
en Drivers de Instrumentos
La versión reciente de NI Measurement Studio 7.0
para Visual Studio C# .NET y Visual Basic .NET
incluye una nueva herramienta para proteger
sus inversiones en desarrollo de controladores de
instrumentos – el Instrument Driver .NET Wizard.
Ya que pocos controladores de hoy son
controladores nativos Visual Studio .NET,
Measurement Studio suministra una forma fácil
para convertir instantáneamente controladores
existentes de instrumentos en controladores
nativos Visual C# o Visual Basic .NET, ahorrándole
semanas o meses en tiempo de desarrollo en
reescritura de controladores existentes de
instrumentos para conformidad con .NET.
Este asistente:
• Convierte controladores de instrumentos
VXIPlug&Play, IVI o de legado
a controladores .NET
• Genera código fuente C# .NET
o Visual Basic .NET
• Proporciona flexibilidad para añadir
controladores como clase pública, privada
o asamblea
• Crea código nativo con ayuda XML y tipos
de datos primitivos .NET
de instrumentos son nativos u optimizados para el
ambiente Visual Studio .NET. A medida que las
tecnologías cambian desde DDE a ActiveX/COM
y ahora a .NET, los proveedores de instrumentos
y usuarios deben mantener los controladores
existentes y entender e incorporar las últimas
tecnologías a los nuevos controladores.
El Instrument Driver .NET Wizard de
Measurement Studio protege los esfuerzos
sustanciales en ingeniería invertidos en
controladores de instrumentos, así usted se
puede enfocar en sus pruebas. El asistente emplea
controladores de instrumentos VXIPlug&Play,
IVI o de legado de archivos .fp y .sub como la
fuente primaria de información de conversión.
Los atributos convertidos en propiedades .NET
y las funciones de inicialización convertidas en
constructores .NET, aseguran interacción nativa con
el controlador .NET y hacen posible inicializar su
instrumento simplemente llamando el constructor.
De la misma forma, todas las funciones cerradas
vienen a ser parte del finalizador .NET o
mecanismo de disposición.
Maximize su Inversión
en Controladores
La mayoría de los manufacturadores hacen la
arquitectura de sus controladores de instrumentos
para uso con varios diferentes modelos y modos
de instrumentos. Este acercamiento generalizado
normalmente quiere decir que el controlador de
instrumentos requiere algunas modificaciones
Más de 10,000 controladores de instrumentos
representan más de seis millones de horas en
esfuerzo de desarrollo de ingeniería existen hoy en
día. Sin embargo, muy pocos de estos controladores
El .NET Instrument Driver Wizard de
Measurement Studio de NI protege su
inversión generando código fuente C#.
Modifique Fácilmente
Controladores de Código Fuente
al código del controlador de instrumentos. Sin
embargo, si usted no tiene acceso al código
fuente, no puede realizar los cambios necesarios
al controlador de instrumentos.
El Instrument Driver .NET Wizard de
Measurement Studio proporciona máxima
flexibilidad generando código fuente para que
pueda modificar fácilmente el controlador. El código
es fuente nativa para Visual C# o Visual Basic .NET
– complete con ayuda XML y .NET tales como
booleano, entero y cadena – y coloque todos los
controladores resultantes interop en el espacio de
nombre NationalInstruments.InstrumentDriverInterop.
Además de mejorar la flexibilidad del código
fuente nativo, el código convertido le permite
seleccionar como interactuar con el controlador
dentro del proyecto, como un ensamblaje .NET, una
clase pública o una clase privada. Use el código
fuente en lugar de un ensamblaje si trabaja con
una aplicación simple, no se anticipe a compartir
el controlador en otros proyectos, o desplegar un
ejecutable final sin enviar archivos adicionales de
ensamblaje o registrarlos en GAC (Global Assembly
Cache). Determinar si el controlador es de clase
pública o privada depende del nivel de accesibilidad
del controlador de instrumentos requerido por su
aplicación. Cree un ensamblaje desde el código
generado si se anticipa a usarlo desde varias
diferentes aplicaciones o si le gustaría actualizarlo
sin reconstruir la aplicación.
Seleccione de Miles
de Controladores
Usando el Instrument Driver .NET Wizard de
Measurement Studio para convertir un controlador
existente a uno nativo .NET proporciona rápidos
beneficios similares en desarrollo de aplicación
a los controladores de instrumentos de NI LabVIEW
de estándar industrial o a LabWindows/CVI.
Puede localizar un controlador de instrumentos
para convertirlo a desarrollo Visual Studio .NET
nativo en el Instrument Driver Network
(ni.com/idnet) y seleccionarlo de miles de
controladores de instrumentos de entre más
de 150 diferentes vendedores. ■
Para descargar el Instrument Driver .NET Wizard
de Measurement Studio o una nota de aplicación,
visite ni.com/info y use la clave nsi4116.
ni.com/idnet
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
19
Comunidad LabVIEW
Los VIs Express Proporcionan Beneficios
para Usuarios Avanzados de LabVIEW
La naturaleza inherente de fácil uso de los VIs
Express los convierte en una clara opción para
nuevos usuarios de LabVIEW. Adicionalmente
desarrolladores experimentados también han
descubierto los beneficios de los VIs Express.
Construyendo VIs Express para compartir con
colegas o clientes, usted invierte menos tiempo
soportándolos. Usando VIs Express en su propio
desarrollo de aplicación, puede crear rápidamente
prototipos para aplicaciones que pueden estar
fuera de su área de experiencia.
sus usuarios finales y reducir el tiempo que
invierte soportando el código.
Los VIs Express entregan una interfase
interactiva basada en configuración para sus
colegas o clientes cuyo entendimiento de la
aplicación o concepto es alto, pero su experiencia
en programación y nivel de confort es bajo. Una
vez que ha desarrollado un VI Express para colegas
o clientes, ellos pueden configurarlo o modificarlo
sin ningún conocimiento previo en LabVIEW,
dándole más tiempo para nuevos desarrollos.
“Las capacidades Express le permiten a los
usuarios de LabVIEW invertir aún menos tiempo
programando y más tiempo tratando de desarrollar
algoritmos y entendiendo los resultados. LabVIEW
realiza un increíble trabajo reduciendo el tiempo
de programación y los VIs Express llevan esto al
siguiente nivel.”
Amplíe Su
Experiencia en
Programación
Ya que los VIs Express
contienen código avanzado
en LabVIEW diseñado
para áreas específicas de
aplicación, son una excelente
herramienta para crear
rápidos prototipos. Puede
usarlos para configurar
– Chris Rogers, Profesor, Departmento de Ingeniería Mecánica
y probar rápidamente
de la Universidad Tufts y creador de ROBOLAB
aplicaciones fuera de su área
de experiencia. Por ejemplo,
Invierta Menos Tiempo Dandole
con el VI Express de análisis, puede construir una
Soporte a Su Código
aplicación avanzada de filtrado análogo aún sin
Muchos desarrolladores que crean código en
bases de ingeniería eléctrica. En lugar de estudiar
NI LabVIEW para colegas o clientes encuentran
las complejidades entre las ventanas Hanning y
que invierten más tiempo soportando los VIs que
Blackman, puede usar el VI Express de medición
creándolos. Con el nuevo Toolkit LabVIEW Express
espectral para determinar interactivamente los
VI Development, ahora puede construir VIs Express
efectos de esas ventanas en sus datos.
personalizados e interactivos para enviarlos a
Para simplificar aún más su desarrollo,
el DAQ Assistant, una nueva herramienta
introducida en LabVIEW 7 Express y fundada
en tecnología express, genera automáticamente
Tecnologías de Punta en
Sensores en LabVIEW Zone
NI y 13 proveedores líderes se han agrupado
para suministrar una base de datos GRATIS
y en línea denominada Virtual TEDS (hojas
de datos de transductores electrónicos) para
usuarios de LabVIEW. Con base en el estándar
IEEE P1451.4, los Virtual TEDS contienen
información de configuración para sensores
específicos de medición y para configurar
automáticamente sistemas de medición en
LabVIEW, conduciendo a configuraciones
más rápidas y pruebas más exactas.
A medida que usted inicia el uso de
esta tecnología, use el LabVIEW Zone
(labviewzone.com) para ver como otros en
la comunidad LabVIEW se están beneficiando
de los Virtual TEDS. Aprovechando la
experiencia de otros, puede aprender como
implementar efectivamente Virtual TEDS
en sus propias aplicaciones. Si construye
sistemas de medición con sensores, descargue
un archivo Virtual TEDS para su aplicación
en ni.com/sensors y visite LabVIEW Zone
para contribuir a la discusión. ■
código LabVIEW en base a su configuración
de sistema. En lugar de programar un complejo
VI para sincronizar tres líneas de salida digital,
dos líneas de adquisición análoga y un contador
digital externo, usted puede usar el DAQ Assistant
para que genere este código por usted, ahorrándole
horas, días e incluso semanas en tiempo
de desarrollo.
Si usted ya desarrolla VIs Express o desea
aprender más sobre ellos, visite LabVIEW Zone
(ni.com/labviewzone) para observar como
la comunidad LabVIEW emplea esta nueva
tecnología. Descargue ejemplos, envíe su propio
código o visite foros de discusión para aprender
como otros usuarios experimentados aprovechan
los VIs Express. ■
Para unirse a un foro de discusión en
LabVIEW Zone sobre el desarrollo de VIs Express,
visite ni.com/info y use la clave nsi4117.
Usando VIs Express, puede rápidamente desarrollar
aplicaciones fuera de su área de experiencia o entregar
programas listos para correr a sus colegas y clientes.
20
ni.com/labviewzone
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Soluciones de Clientes
Sistema Basado en PXI Detecta Fallas en Películas de Plástico
Por Howard Foster, MicroCraft Corporation
El Reto: Desarrollar un sistema de
visión y movimiento para detectar, contar
y categorizar defectos en escala de micras
en una muestra de película de plástico.
La Solución: Crear un sistema
automatizado de movimiento y visión usando
PXI tanto para el sistema del computador
como para el hardware.
Un manufacturador de hojas de plástico
retó a MicroCraft para que creará un sistema
automatizado de inspección para encontrar
y categorizar defectos en la escala de micras.
El sistema necesitó implementar procedimientos
actuales de prueba y catalogar las imágenes e
información estadística sobre los defectos en
una base de datos de búsqueda.
MicroCraft usó un sistema de visión y
movimiento para realizar el procedimiento
original de prueba del cliente implementando
un campo cruzado de luz polarizada. Los defectos
son representados como manchas luminosas
debido a la distorsión de las
cadenas alineadas de polímero
en el material. Para acomodar
el tamaño de muestra del cliente
de 8 in. de diámetro, cubrimos
una tabla con luz de fondo
con una hoja polarizada,
colocándola en un sistema
de riel lineal de dos ejes
para controlar la iluminación
y movimiento de la muestra.
Nosotros integramos movimiento,
visión y recolección de datos
junto con un sistema basado en
Usando NI IMAQ Vision Builder, Microcraft desarrolló VIs para detección
PXI de National Instruments.
de defectos, mediciones calibradas y guardado de archivos de imagen.
Usando una tarjeta de control de
movimiento NI PXI-7324 y las
tarjetas IMAQ NI PXI-1407 y NI PXI-1422,
por muestra, los operadores ahora pueden probar
desarrollamos un sistema que excedió las
hasta 30 muestras por hoja. ■
necesidades del cliente, ahorrando tiempo,
horas hombre y finalmente dinero. Las
Para leer la solución completa del cliente,
herramientas de movimiento y visión, con sus
visite ni.com/info y use la clave nsi4118.
bien desarrollados VIs de funciones y análisis,
ni.com/success
reducen enormemente el tiempo de desarrollo
del sistema. A aproximadamente 15 minutos
Creando Un Sistema Basado en Visión
para Clasificado de Lápices
Por Anand Chinnaswamy, G. Mahendran,
A. Ashok Kumar, Soliton Automation Pvt. Ltd.
El Reto: Desarrollar un sistema de máquina
automatizada basada en visión que clasifique
dos millones de lápices por día y realice
adquisición de imágenes de alta velocidad,
procesamiento en tiempo real y sincronización
precisa de eyectores.
La Solución: Construir un sistema de
clasificación de alta velocidad usando el
módulo de desarrollo NI Vision, LabVIEW y
hardware de adquisición digital de imágenes,
mientras se desarrolla unos algoritmos de
procesamiento de imagen de referenciado y
circuito externo usando NI IMAQ Vision Builder
para realizar sincronización en tiempo real
de los eyectores.
Nuestro cliente es uno de los cinco principales
productores de lápices de madera en el mundo.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Durante la manufactura de los lápices, se
pueden inducir un número de defectos tales como
puntas pérdidas, desplazamiento de puntas y
desalineamiento de tablilla. Nuestro cliente requirió
un sistema totalmente automatizado capaz de
clasificar más de 23 lápices por segundo en
base a estos defectos. Estudios de referencia
conducidos con IMAQ Vision Builder indicaron
claramente la necesidad de un procesador de
2.5 GHz para realizar la adquisición y
procesamiento de imágenes.
Desarrollamos nuestro sistema usando dos
cámaras de escaneo de línea monocromática de
alta resolución y velocidad enfocadas a dos lados
opuestos del lápiz. Conectamos estas cámaras a
dos tarjetas de adquisición de video PCI-1422.
Interfazamos la unidad de control de la banda
transportadora a la tarjeta de adquisición de
datos PCI-6025E para fijar la velocidad del
transportador y adquirir la información de
posición. Conectamos el sistema de inyección
neumático a las líneas digitales de la tarjeta
Nuestro cliente requirió un sistema totalmente
automatizado capaz de clasificar más de 23 lápices
por segundo.
DAQ a través de una tarjeta de interfase que
sincroniza los eyectores de alta velocidad y
controla las válvulas.
Usando NI Vision Builder para Inspección
Automatizada, desarrollamos algoritmos de
procesamiento de imagen que fueron bastante
sofisticados para detectar diferentes tipos de
defectos bajo diferentes condiciones. ■
Para leer la solución completa del cliente,
visite ni.com/info y use la clave nsi4119.
ni.com/success
21
Vista de Desarrolladores
Usando su Laptop para Aplicaciones
de Control Portátil usando PXI
Los ingenieros cada vez más usan sistemas PXI
basados en laptop para reunir requerimientos de
prueba complejos que demandan ser portátiles.
Con soluciones PXI basadas en laptop, puede
ampliar los sistemas de control portátil y de
adquisición de datos para abarcar incluso mayor
desempeño en mediciones y control. Por ejemplo,
con más de 900 módulos de medición PXI
disponibles, puede usar un sistema PXI para tomar
mediciones desde 300 VDC hasta 2.7 GHz RF.
Adicionalmente, PXI suministra temporización y
sincronización avanzada multimódulo, así usted
puede implementar sistemas con características tales
como 112 canales muestreados simultáneamente
a 24-bits y 102 kHz.
Los dos métodos más comunes de control
portátil PXI son LabVIEW Real-Time para control
y sistemas de medición determinísticos y confiables,
y Microsoft Windows XP Remote Desktop para
sistemas de medición portátiles de propósito
general. Ambos métodos usan una conexión
Ethernet punto a punto entre la laptop y el
PXI sobre un cable cruzado Ethernet.
Usando NI LabVIEW Real-Time
para Sistemas PXI Determinísticos
Usando el módulo LabVIEW Real-Time, puede
desarrollar su aplicación en cualquier PC o
laptop y entonces descargar el programa para
correr en un controlador embebido PXI. El VI
LabVIEW Real-Time se ejecuta en el controlador
PXI, considerando que el GUI corre en la laptop.
LabVIEW controla la comunicación entre los
sistemas sobre la conexión Ethernet e incluso
ajusta la prioridad y actualiza la velocidad del
Implemente control portátil para PXI sobre Ethernet con LabVIEW Real-Time o Microsoft Windows XP Remote Desktop.
GUI para asegurar que cualquier operación
crítica corre ininterrumpidamente. Esto hace
que LabVIEW Real-Time sea conveniente para
aplicaciones de diseño de control y de simulación
tales como prototipos de nuevos esquemas de
control de motores.
Usando Windows XP para Sistemas
Portátiles PXI de Propósito General
Para usar un controlador embebido PXI con
Windows XP, seleccione “allow users to connect
remotely to this computer” en la lengüeta Remote
del System Control Panel. Tome nota de la
dirección IP de su controlador y del nombre del
computador para establecer luego la conexión.
Entonces, conecte el controlador embebido PXI a
su laptop usando un cable cruzado Ethernet. Para
iniciar la conexión y registrarla en el controlador
PXI, seleccione Remote Desktop Connection en el
menú Start de la laptop. Puede registrarse usando
la dirección IP o nombre del computador, así como
también con una cuenta y clave configuradas
en el controlador PXI.
En este punto, usted posee el control del
controlador embebido PXI como si su laptop
fuera la conexión de teclado, monitor y mouse
para el sistema PXI. Si usted nunca antes ha visto
XP Remote Desktop, puede sorprenderse de lo
fácil que opera y el rápido GUI. Adicionalmente,
las aplicaciones de medición y automatización
corren sin pérdida de desempeño cuando usan
Windows XP Remote Desktop. Recuerde, su
aplicación corre en el controlador PXI, no en
la laptop, así su hardware de medición y software
de análisis continúan operando a total velocidad.
En efecto, si no ha atado el desempeño de su
aplicación a la velocidad de actualización del
GUI – por ejemplo, configurando la propiedad
“synchronous” de un control gráfico LabVIEW –
su aplicación continúa operando a la misma
velocidad que el controlador embebido. Por
ejemplo, puede usar este método para adquirir
y graficar datos desde la tarjeta de adquisición
de datos multifunción NI PXI-6070E a 1.25 MS/s
sin experimentar errores o limitaciones en ancho
de banda como un resultado de la conexión
XP Remote Desktop. ■
Recabación, análisis, archivado
y publicación de datos
Navegadores Web
Para ver tutoriales sobre la configuración
y desempeño de los dos métodos de control
por laptop de PXI, visite ni.com/info y use
la clave nsi4120.
Ethernet
Internet
Greg Caesar
Gerente de Productos PXI
[email protected]
E/S para Ethernet
Mediciones distribuidas en PXI
PXI Real Time
Dispositivos inalámbricos
Dispositivos seriales
ni.com/modularinstruments
Con controladores de sistemas de redes de trabajo, puede accesar y controlar sus sistemas de medición y automatización PXI sobre Ethernet.
22
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Conexión Web
Mejore Su Precisión y Productividad con ni.com
Simplifique Su
Selección de
Componentes con
los Consejeros
en Línea de NI
National Instruments le facilita
seleccionar los componentes
correctos para un sistema completo
de medición y control, ya sea que
usted trabaje con máquinas de
visión, adquisición de datos en
ambientes industriales o con
mediciones basadas en sensores.
Visite ni.com/devzone/advisors
para encontrar varios consejeros
de productos complementarios, incluyendo:
Consejero para
Cámaras Industriales
Descubra la Diferencia de
Exactitud en Acondicionamiento
de Señal
Descubra como los cables y accesorios de
acondicionamiento de señal correctos pueden
mejorar su exactitud hasta 10 veces. El
Laboratorio de Exactitud Virtual de NI le permite
interactuar y controlar un sistema en vivo de
monitoreo de temperatura en la Web. Encienda
un motor y adicione ruido al sistema y entonces
compare los resultados con y sin amplificación
y filtrado a medida que controla la temperatura
del ambiente del sistema. Puede ver en tiempo
real la mejora en exactitud que resulta de
adicionar acondicionamiento de señal al
sistema de medición. ■
Emplee el Consejero de NI para Productos de Terceros para encontrar productos
de colegas para sus productos de medición, control y automatización de NI.
Encuentre la cámara correcta para completar su
solución de adquisición de imagen de NI de una
base de datos con más de 300 cámaras de 19
proveedores. Busque por marca, color, interfase,
tales como IEEE 1394 (FireWire) o Camera Link
y mucho más. Seleccione varias cámaras para
comparar especificaciones, así puede tomar más
fácilmente la decisión. También puede solicitar
que el proveedor lo contacte para que le responda
cualquier pregunta que pueda tener.
Consejero de Sensores
Plug & Play de NI
Si usted conoce que necesita medir, puede usar el
Consejero Plug & Play Sensor de NI para encontrar
los sensores TEDS (hoja de datos electrónica de
transductor) que necesite de entre 15 proveedores.
Estreche sus resultados de búsqueda especificando
características tales como el rango de exactitud en
el que la salida del sensor debe caer, el nivel de
robustez que debe tener el sensor e incluso la
El NI Example Finder le permite buscar más de 3,000
programas ejemplo en ni.com.
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Para probar ahora el Laboratorio de Exactitud
Virtual, visite ni.com/info y entre nsi4121.
disponibilidad de sus datos de calibración en
la base de datos de NI Virtual TEDS.
Consejero para Sistemas
Listos para Medición
Asegúrese que su hardware de medición esté
protegido contra temperaturas extremas, humedad,
polvo y otros seleccionando un sistema portátil de
adquisición de datos listo para medición, ya sea
por especificación o por tipo de sistema, tales
como portátiles o de escritorio.
Acceda Ahora Ejemplos
en Línea desde su Ambiente
de Desarrollo
Ya sea que use NI LabVIEW, LabWindows/CVI
o Measurement Studio para Visual Studio .NET
para desarrollar su aplicación, usted probablemente ha usado un ejemplo incluido como
ayuda en aprendizaje o para acelerar su tiempo
de desarrollo. Ahora, no solo puede acceder los
miles de ejemplos incluidos en su ambiente
de desarrollo de aplicación (ADE) de NI, sino
que también puede buscar la base de datos
de NI con más de 3,000 programas ejemplos
en línea desde la misma interface. En la
lengüeta Search de NI Example Finder (accesible
desde el menú Help de cualquier ADE de NI),
simplemente haga clic en la caja de verificación
junto a “Include ni.com examples.” El Example
Finder emplea su conexión existente de
Internet para buscar en la base de datos de
ni.com los programas ejemplo que coincidan
con su criterio.
Sugiera el Siguiente
Producto de NI
¿Existe un producto de medición o
automatización que necesite y que piense
que NI debería desarrollar? ¿Tiene sugerencias
para mejorar las características, facilidad de
uso o funcionalidad de productos existentes?
Ahora puede dar a National Instruments su
retroalimentación usando el NI Product
Suggestion Center. ■
Para darle entrada a NI Product Suggestion
Center, visite ni.com/info y entre nsi4122.
Visite el Nuevo DAQ Site
en ni.com
Visite el sitio recientemente rediseñado para
adquisición de datos (DAQ) en ni.com para:
• Completar detalles técnicos
y especificaciones
• Consejeros de Productos y guías
de selección
• Fuentes técnicas tales como código
ejemplo, documentación y soluciones
de clientes ■
Para aprender más, visite ni.com/dataacquisition
ni.com
23
Servicios y Soporte
Aumente su Productividad con los
Cursos de Capacitación en LabVIEW
de estados, diseño apropiado
de interfases de estado, estrategias para control de error y
documentación efectiva. Al final
del curso, podrá analizar sus
requerimientos de aplicación,
seleccionar los patrones de diseño
y estructuras de datos correctos
para su aplicación y probar
rápidamente su diseño.
LabVIEW Intermedio II –
Desempeño y Conectividad
(dos días) es una continuación
en sus habilidades de desarrollo
de LabVIEW Intermedio I y
le enseña la administración
de memoria y técnicas para
Explore prácticas exitosas en el desarrollo en LabVIEW y técnicas que
maximizar el desempeño de
amplían el desempeño con los nuevos cursos intermedios y avanzados.
aplicaciones. Usted también
La serie de NI de cursos de capacitación intermedios
amplía la funcionalidad de aplicaciones aprovey avanzados en LabVIEW le ayudan a aumentar su
chando las capacidades de otras aplicaciones que
productividad, por tanto reduciendo sus costos de
usan tecnologías de conectividad tales como
desarrollo y de mantenimiento durante la vida de
DLLs, ActiveX y la Internet.
la aplicación. Si usted ha asistido a un curso básico
o es usuario experimentado de LabVIEW, usted se
LabVIEW Desarrollo de Aplicaciones Avanzadas
beneficia de los cursos intermedios y avanzados
(cuatro días), tomado después de los cursos
aprendiendo técnicas importantes y características
listados arriba, lo prepara para crear aplicaciones
claves que lo inician correctamente en su aplicación,
extensas y de alta calidad incorporando caracterísmaximizando el desempeño y desarrollando
ticas avanzadas de diseño. Este curso le enseña a
aplicaciones más extensas y complejas que pueda
crear aplicaciones que maximicen la reutilización
mantener y reutilizar fácilmente.
de código, aplicar convenciones estándares de
Capacitación Intermedia y
Avanzada en LabVIEW 7 Express
NI ahora ofrece un rango de cursos de capacitación
intermedio y avanzado para LabVIEW 7 Express.
Tome juntos en cinco días nuestros nuevos cursos
Intermedios I y II en LabVIEW para explorar tanto
prácticas exitosas en el desarrollo en LabVIEW
como técnicas que maximizan el desempeño.
Diseñado para aquellos que han tomado LabVIEW
Básico I y II o que poseen una experiencia
equivalente en LabVIEW, estos cursos le ahorran
tiempo y costos de desarrollo.
LabVIEW Intermedio I – Prácticas Exitosas
de Desarrollo (tres días) le enseña prácticas
estructuradas para diseñar, desarrollar, probar y
distribuir aplicaciones de LabVIEW. Aprenda buenas
técnicas de desarrollo de aplicaciones en LabVIEW
tales como desarrollo de VI jerárquico, máquinas
24
codificación y diseñar sus aplicaciones para
máximo desempeño. También se discute técnicas
y herramientas para aplicaciones con múltiples
desarrolladores en LabVIEW en un ambiente
de equipo.
Formatos de Capacitación
Ofrecemos nuestros cursos intermedios y
avanzados en nuestras oficinas corporativas,
oficinas de NI en todo el mundo, centros de
capacitación certificados por NI o en el lugar
más conveniente para usted. También podemos
crear un curso personalizado en base a su
nivel de requerimiento y llevarlo al lugar de
su conveniencia. ■
Para mayor información sobre los perfiles de los
cursos intermedios y avanzado sobre LabVIEW
o para obtener un calendario comprensivo de
cursos, visite ni.com/info y use la clave nsi4123.
Invierta en Sus Datos: Tome
Cursos sobre NI DIAdem
Tome un curso Básico o Avanzado de
DIAdem ofrecido en una secuencia de cinco
días en nuestras oficinas corporativas en
Austin o en nuestros centros de capacitación
regionales. Instructores experimentados
enseñan los cursos ofreciendo capacitación
práctica sobre software y hardware que
le ayuda a aprender como desarrollar
aplicaciones de alto desempeño, ahorrándole
tiempo y dinero.
DIAdem Básico (tres días) le enseña como
importar conjuntos de datos, analizarlos
visual y computacionalmente y a crear
reportes con calidad de impresión. También
aprende como usar Visual Basic Script para
automatizar cada una de estas tareas y
construir aplicaciones DIAdem. Perfecto para
nuevos usuarios de DIAdem, este curso solo
requiere experiencia previa en Windows.
DIAdem Avanzado (dos días) elaborado en
base a las competencias centrales establecidas
en el curso DIAdem Básico. El curso se
enfoca en la creación de interfases de usuario
personalizadas y en el uso de Visual Basic
Script para automatizar procesos de datos.
El curso DIAdem Avanzado está diseñado
para aquellos que desarrollan aplicaciones
para automatizar la administración de datos
y para procesar y generar reportes. Es
requisito previo tener DIAdem Básico o
experiencia equivalente. ■
Para descargar un calendario de cursos o
registrarse para un curso de DIAdem en línea,
visite ni.com/info y use la clave nsi4124.
Para información sobre cursos en español y
el calendario en los paises de latinoamérica
visite ni.com/cursos
ni.com/training
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Noticias en Latinoamérica
Gane un Viaje Gratis a Austin, Texas durante NIWeek 2004.
Fecha Límite es 1ro. de Mayo
Si usted cuenta con una aplicación que usa los
productos de National Instruments y que
representa un gran nivel de integración y
complejidad, lo invitamos a participar en nuestro
concurso a la Mejor Aplicación en Latinoamérica
y tener la oportunidad de ganar un viaje todo
pagado a Austin, Texas durante NIWeek 2004.
El Premio Incluye:
• Reembolso de un boleto de avión (ida
y vuelta) a Austin, TX, USA desde el
aeropuerto internacional más cercano a
su residencia. (Solo un viaje a un autor del
artículo ganador)
• 4 noches de hotel (del 16 al 19 de agosto)
• Pago de registro a NIWeek 2004
Bases de el concurso
• El artículo redactado deberá contar por lo menos
con una de las siguientes características:
– Uso de 3 o más diferentes líneas de productos
de National Instruments en la aplicación
(ejemplo: aplicación que usa LabVIEW,
tarjeta IMAQ y tarjeta DAQ)
– Uso de uno de los siguientes productos:
LabVIEW Real-Time, LabVIEW FPGA,
LabVIEW PDA, TestStand, Compact FieldPoint
o PXI
• La solución debe de estar actualmente
en uso en la industria
• No se aceptarán artículos previamente
enviados a National Instruments o ya
publicados en la página Web de NI
• El artículo, gráficos y derecho de
publicación deberán ser enviados
en el formato establecido con
todas las formas completas antes
del 1ro. de mayo, 2004 vía correo
electrónico a [email protected]
El ganador será anunciado el día
31 de mayo, 2004. Todos los artículos
recibidos y aceptados recibirán $100 USD de
descuento en el registro a NIWeek 2004. ■
Para más información sobre NIWeek 2004 y el
concurso o para descargar el documento con los
formatos del artículo visite ni.com/latam
National Instruments Anuncia Expansión de sus Oficinas en México
National Instruments de México anunció la
expansión de sus oficinas en sus sucursales de
Ciudad Juárez, Chihuahua y el Distrito Federal a
partir del mes de marzo del presente año.
Desde sus inicios hace diez años, NI México ha
tenido como su prioridad principal proporcionar
apoyo técnico a sus clientes de manera rápida y
eficiente. Por esta razón, en la sucursal de la ciudad
fronteriza se ha aumentado en un 50% el personal
de Técnicos de Ventas que brindan ayuda técnica
a clientes con consultas sobre soluciones y
productos de prueba y medición. La sucursal de
la capital del país también ha visto un incremento
en su personal con la presencia del Ing. Blasioz
Valenzuela como Ingeniero de Ventas, el Ing. Arturo
Quezada como Ingeniero de Soporte y la Lic. Lilian
Cano ahora como encargada del Departamento
de Mercadotecnia.
El aumento de personal en la oficina del
Distrito Federal ha dado origen a la necesidad
de reubicación a instalaciones más amplias,
expansión que refleja el crecimiento constante de
National Instruments como líder en medición y
automatización no sólo en México sino en todo el
mundo. Previamente localizadas en la Colonia
Polanco, las oficinas de NI México en la capital del
país ahora están ubicadas en Insurgentes Sur 619 –
601 en la Colonia Nápoles. Las nuevas instalaciones
dan acomodamiento a sus ejecutivos de ventas,
ingenieros de aplicaciones, departamento de
mercadotecnia y personal administrativo. “El local
cuenta con un área de recepción para alojar
cómodamente a nuestros visitantes”, afirmó Lilian
Cano, Coordinadora de Mercadotecnia en la oficina
del Distrito Federal. “Sin embargo, el aspecto más
relevante de la expansión de nuestras oficinas es la
ampliación del centro de capacitación que se utiliza
para cubrir todas las necesidades de aprendizaje
técnico de nuestros clientes”.
Desde sus nuevas oficinas en el Distrito
Federal y la oficina en Ciudad Juárez, NI México
continuará ofreciendo a sus clientes la misma
calidad de servicio y productos que le caracteriza,
ahora con el valor añadido de instalaciones con
gran funcionalidad.
Los lectores pueden obtener información sobre
la nueva ubicación de las oficinas de NI México
llamando al 01 800 010 0793. ■
Crece Equipo de Técnicos de Ventas en Ciudad Juárez
Por su parte, la oficina de Ciudad Juárez expande
el grupo de servicio al cliente y técnicos de venta.
Jorge Vázquez y Sergio Cazares, ahora trabajan
desde la oficina de Ciudad Juárez para recibir las
llamadas de clientes de todo el país y ayudarle
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
a configurar, recomendar y cotizar su equipo de
National Instruments. Jorge y Sergio cuentan con
más de 1 año de experiencia y estan listos para
recibir sus llamadas de lunes a viernes de 8am a
6pm (hora central). ■
Contacte su oficina de National Instruments
México más cercana marcando gratuitamente
el nuevo número telefónico 01 800 010 0793
ni.com
25
Noticias Académicas
El Centro de Enseñanza Técnica Industrial Establece
LabVIEW como su Lenguaje de Programación Estándar
El Centro de Enseñanza Técnica Industrial (CETI)
en Guadalajara ha adquirido una licencia de
software departamental para el uso de LabVIEW
de National Instruments a lo ancho de su campus.
El CETI planea usar LabVIEW inicialmente en
su Departamento de Control con la finalidad de
expandir el uso del software a los departamentos
de Computación, Electrónica y Electricidad.
“LabVIEW es una plataforma ideal para la
escuela debido a que [el CETI] es una institución
educativa tecnológica de nivel superior y medio
superior cuyas carreras se orientan a la industria
y llevan temas como la instrumentación,
mantenimiento, control, sistemas de control
SCADA”, explica el Ing. Willivaldo Ruíz, Jefe del
Área de Control Automático del CETI, “LabVIEW
ayuda a incrementar el entendimiento de las
materias antes listadas, estar a la vanguardia
en la tecnología y por un costo muy reducido
pudimos dotar todas la computadoras de este
centro de estudios con la licencia de LabVIEW
y otros 15 paquetes complementarios”.
Con los beneficios que LabVIEW ofrece,
el CETI espera que el nivel de aprendizaje de
los alumnos se incremente en materias como
matemáticas, instrumentación, control y física.
■
Para leer más sobre esta noticia y como otras
universidades estan usando LabVIEW en sus
carreras de ingenieria viste ni.com/latam/academia
Los Ganadores del Concurso Académico en las 4as Jornadas
de Instrumentación Virtual en la Academia
National Instruments organizó por cuarto año
consecutivo las Jornadas de Instrumentación
Virtual en la Academia, serie de eventos que
se llevó a cabo durante la primavera del
presente año en varios países de Latinoamérica,
incluyendo Colombia, México, Puerto Rico y
Venezuela. Ahora tenemos el gusto de anunciar
a los ganadores del Concurso Académico a
nivel regional y el ganador del primer premio
a nivel Latinoamérica.
El ganador de la Región Andina es el
Sr. Pablo Estévez Castillo, estudiante de la
Universidad Simón Bolívar (USB) en Caracas
Venezuela, con la presentación titulada
“Diseño de Estación Sismológica Asistida
por Computador”.
Los ganadores de la Región Conosur son los
Sres. Jorge Guevara, Enrique Vargas y Vicente
González, estudiantes de la Universidad Católica
Nuestra Señora de la Asunción en Paraguay,
con la presentación titulada “Control Digital
de la Sustentación de un Disco Utilizando Flujo
de Aire”.
Los ganadores de la Región México son
los Sres. Víctor H. Villa y Ernesto Arteaga,
estudiantes de la Universidad CETYS, en Ensenada
con la presentación titulada “Comunicación
LabVIEW-PLCs Festo a Través de ActiveX”.
El ganador del primer premio del concurso
académico de la Región Latinoamérica es el
Sr. Pablo Estévez Castillo con su presentación
“Diseño de Estación Sismológica Asistida
por Computador”.
Le invitamos a leer la aplicación ganadora
del concurso a nivel continental. Las aplicaciones
de los ganadores serán publicadas en la página
Web, ni.com/latam ■
Nuevo Libro sobre Adquisición de Datos en Español
Editorial Soluciones en Control SRL recientemente
lanzo al mercado la publicación del libro titulado
“Adquisición de Datos: Medir para Conocer y
Controlar”. Este libro de más de 20 capítulos dedicó
una sección al software de programación grafica
de National Instruments: LabVIEW.
Este libro original sobre adquisición de
datos escrito en español por el Ing. Carlos Chicala,
de Argentina, cubre los conceptos básicos para
adquirir datos, así como aspectos clave del
hardware y software utilizado para adquisición de
datos para mediciones y control. El libro incluye
también una sección práctica sobre un tutorial
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de LabVIEW 7 Express donde los lectores
pueden usar el CD de software de evaluación
de LabVIEW 7 Express para aprender a
construir fácilmente un instrumento virtual
que les permita adquirir, analizar y presentar
sus datos.
El libro cubre de manera extensa los
conceptos teóricos de un sistema de adquisición
de datos desde convertidores, filtros y
amplificadores hasta acondicionamiento de
señales, sensores, técnicas de reducción de
ruido y software de diferentes tipos para la
creación de sistemas completos. ■
Para obtener mas información y detalles sobre
cómo adquiri el libro “Adquisición de Datos:
Medir para Conocer y Controlar”, escriba a
[email protected]
Para obtener gratuitamente tutoriales y hojas
técnicas relacionadas con sistemas de adquisición
de datos en español visite ni.com/latam/daq
ni.com/latam
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
Eventos
Próximos Eventos de NI al rededor del Mundo
Asista a Eventos en Vivo Vía la Web
Únasenos en línea para eventos en vivo e
interactivos ofreciendo soluciones a aplicaciones
y tópicos sobre tecnologías de punta, incluyendo
“PACs para Registro Redundante de Datos,”
“Sistemas de Inspección de Visión en Tiempo
Real” y “Técnicas DAQ Avanzadas.”
Si no puede atender un evento en vivo por
la Web, vea el tópico en cualquier instante con
Web Events on Demand. Por ejemplo, descubra
los nuevos productos de instrumentación modular
PXI de alta resolución de NI accediendo el Web
Event on Demand “Introducción a los Prototipos
de Señal Mixta de NI y a la Plataforma de
Prueba”. Visite ni.com/webevents/archive para
una lista completa de eventos grabados. ■
para capacitar a su personal en el uso de las
herramientas más modernas disponibles para
la resolución de aplicaciones comunes en la
industria como pruebas de partes electrónicas
en el área de manufactura, chasises y arneses y
pruebas de seguridad. Rick Ary, especialista de
National Instruments en este campo, impartirá
este seminario de manera remota desde los EE.UU.
y compartirá la experiencias obtenidas a lo largo
de su relación con la industria automotriz de los
EE.UU., Europa y Japón.
Este evento se llevará a acabo durante el
mes de Junio en São Paulo y Curitiba en Brasil
y durante el mes de Mayo en Toluca, Querétaro
y Saltillo en México.
Automated Test Summit 2004
Seminarios Web También
en Español
Próximamente no se puede perder en vivo los
seminarios Web sobre temas interesantes. Estos
eventos se dictan completamente en español y
al final tiene la oportunidad de hacer preguntas
y recibir respuestas de los expertos de NI.
Visite ni.com/latam para ver la lista completa
de seminarios Web en español con fecha, hora
y lista de temas. ■
Para registrarse en eventos Web en inglés,
visite ni.com/info y use la clave nsi4131.
Próximos Seminarios
Seminario Especializado para
Aplicaciones en la Industria
Automotriz en México y Brasil
Este evento único está enfocado a ingenieros y
técnicos en las áreas de medición, pruebas
automatizadas, control de calidad y producción.
El evento cubre los diferentes aspectos necesarios
National Instruments y sus distinguidos asociados
de la industria de prueba, le invitan a asistir al
Automated Test Summit 2004 en Ciudad Juárez,
Chihuahua el 21 de mayo del presente año. En este
evento sin costo y con duración de un día donde
usted puede explorar lo último en tecnología de
desarrollo de prueba y medición, se concentrará en
la capacitación técnica, demostraciones, expertos
en la industria, integradores y desarrolladores de
productos. Conéctese con colegas, aumente su
conocimiento profesional sobre desarrollo de
aplicaciones y entérese de las estrategias y técnicas
de punta sobre prueba automatizada por medio
de sesiones con un enfoque específico en las áreas
de interés de gerentes e ingenieros de pruebas,
procesos, validación y manufactura. Se ofrecerá
una comida de cortesía. Inscríbase hoy mismo
en ni.com/testsummit ■
Visite ni.com/latam para ver otros seminarios
técnicos que se llevarán a cabo cerca de usted.
Reseña de NIWeek 2003
Durante NIWeek 2003, efectuado en Austin, TX,
los clientes, miembros del Programa Alianza
de NI, miembros de la prensa, educadores y
científicos de todo el mundo experimentaron
el poder de vincularse a la tecnología de
computación por medio de software y
hardware modular de NI para crear
herramientas sofisticadas de medición
y automatización.
El presidente de NI y CEO James Truchard
cerró la conferencia entregando su visión
de la instrumentación virtual a un número
record de asistentes a NIWeek.
NI también introdujo un conjunto de
nuevos productos, incluyendo TestStand 3.0,
Measurement Studio 7.0, LabWindows/CVI 7.0
y el nuevo conjunto de instrumentos de
prueba PXI para señal mixta a 100 MS/s. ■
Para mayores detalles sobre NIWeek 2003,
incluyendo las nuevas versiones de productos,
videos con notas claves y archivos con las
muestras diarias en NIWeek, visite ni.com/info
y use la clave nsi4133.
Asista a NIWeek 2004 y Ahorre
20% en su Pago de Registro
Registrese a NIWeek 2004 antes del 1ro. de
Junio y pague solo $895dls en su inscripción,
esto es 20% menos que el precio final.
Participe en NIWeek 2004 presenciando una
$1095dls. Este año NIWeek 2004 se llevará a
cabo del 17 al 19 de Agosto en Austin, Texas.
Para mas información sobre NIWeek visite
ni.com/niweek ■
National Instruments participará en las siguientes exposiciones de Latinoamérica:
Mes
Nombre de Exposición
Ciudad
Pais
Abril
EXPETRO
Acapulco
México
Mayo
Convención Industrial de Puerto Rico
San Juan
Puerto Rico
CONAI
São Paulo
Brasil
Junio
ISA ExpoControl
México
México
FENASOFT
São Paulo
Brasil
Septiembre
9a Muestra de Insumos
Chihuahua
México
ni.com/events
National Instruments • ni.com/latam • [email protected]
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Perspectiva de Tecnología
Las Nuevas Herramientas de NI Aceleran
el Diseño para Manufactura
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Navegación
PC/Internet/E-mail
PDA
Teléfono Celular
Juegos
AM/FM Stereo
Diagnósticos Remotos
Alarma/Radio de
Carro Satelital
• DVD+RW
• CD+RW
Las nuevas herramientas de NI ayudan a acelerar el
diseño hacia el proceso de manufactura a través de
un rango de productos e industrias.
La continua convergencia de la computación,
las comunicaciones y la multimedia crea nuevos
retos de pruebas a través de un rango de industrias
y desarrollos de impacto para productos tan
diversos como teléfonos celulares/PDAs, sistemas
telemáticos en automóviles, sistemas de aviación
en vuelo por cable e ICs de SOC (sistemas en un
chip) multifunción que alimentan estos productos.
La complejidad de estos sistemas hace
imperativo que los datos y herramientas desarrolladas se enlacen a lo largo del diseño, validación y
procesos de manufactura. Aunque las herramientas
CAE/EDA de hoy han aliviado la simulación de
diseño, la validación de diseño e introducción al
proceso de manufactura se han tornado más
difíciles. Para lograr ganancias en productividad
las herramientas de diseño de hoy y las plataformas modernas de pruebas deben simplificar la
generación y análisis de las señales análogas/
digitales mixtas requeridas para la validación de
diseño y entonces ofrecer máxima reutilización de
software y hardware desde la validación dentro
hasta las pruebas de producción.
En NI, los tres mayores avances a nuestra
plataforma de prueba se encaminan directamente
a estos retos:
• Nuestro nuevo conjunto de señal mixta de instrumentos PXI análogos y digitales permite mayor
exactitud y estímulos sincronizados y pruebas
de sistemas multifunción con señales desde DC
hasta audio, vídeo, y frecuencias IF y RF
• NI LabVIEW 7 Express ofrece fácil interactividad
de configuración, síntesis y medición extensiva
de señal e integración con herramientas líderes
en simulación para simplificar el desarrollo de
pruebas complejas multifunción
• Para acelerar la transferencia del diseño a la
manufacturación, NI TestStand 3.0 proporciona
reutilización transparente de pruebas desarrolladas en ambientes estándares industriales
tales como NI LabVIEW, LabWindows/CVI,
Visual C/C++/Basic y .NET
La combinación de estos recientes avances en
hardware y software proporciona los elementos
centrales de una plataforma común de prueba que
acelera el diseño hacia la manufacturación. ■
Para aprender más sobre como los avances recientes
a la plataforma de prueba de NI aceleran el diseño
hacia la manufactura o para leer sobre las compañías
líderes que emplean estas nuevas herramientas, visite
ni.com/info y use la clave nsi4134.
ni.com/modularinstruments
Más Información y Recursos
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Oficinas en Latinoamérica:
Argentina 0800 666 0037 • Chile 800 532 951
Colombia 9 809 133092 • México 01 800 010 0793
Perú 0 800 50614 • Puerto Rico 800 433 3488
Uruguay 0004 055 114 • Venezuela 0800 100 4466
ni.com/product