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Difracción de polvo de rayos-X y el método de Rietveld aplicados en materiales
cerámicos y cementos
Gema Álvarez Pinazo, Marta García Maté
X-Ray Data Services (XDS, http://www.xdataser.com/)
Castellón, 29 Septiembre-1 Octubre 2015
Día 1
9:00 - 9:25 h.
Bienvenida curso.
9:30 - 10:25 h.
Presentación BRUKER.
10:30 - 11:25 h.
T1. Materia cristalina y difracción de polvo: usos generales. Identificación de
fases y base de datos: PDF.
11:30 - 11:55 h.
Café/descanso.
12:00 - 12:55 h.
T2. El método de Rietveld y análisis de fases cuantitativo. Bases de datos: ICSD,
COD, etc.
13:00 - 14:55 h.
Comida.
15:00 - 17:00 h.
P1. Introducción al programa DIFFRAC.EVA. Conceptos básicos. Búsqueda de
fases cristalinas y usos generales.
Día 2
9:00 - 9:55 h.
T3. Esquema básico de un difractómetro de polvo. Geometrías. Preparación de
muestras y toma de datos.
10:00 - 10:55 h.
T4. Configuraciones del difractómetro de polvo. Diferentes técnicas: transmisión,
ángulo rasante, reflectometría, etc.
11:00 - 11:25 h.
Café/descanso.
11:30 - 13:00 h.
P2. Introducción al programa TOPAS. Conceptos básicos. Análisis Rietveld
básico. Ejemplos con difractogramas estándar: muestras monofásicas.
13:15 – 14:55 h.
Comida.
15:00 – 15:55 h.
T5. Usos avanzados del análisis cuantitativo de fases por el método de Rietveld:
cuantificación de material no difractante/amorfo presente en una muestra
cristalina.
16:00 – 17:00 h.
P3. Prácticas con TOPAS. Análisis mineralógico con el método de Rietveld:
Muestras de interés cerámico.
I
Día 3
9:00 - 9:55 h.
T6. Aplicaciones de la difracción de polvo y del método Rietveld en materiales
cerámicos y cementos.
10:00 - 10:55 h.
T7. Usos avanzados de la difracción de polvo de alta resolución y el método de
Rietveld: estudio microestructural.
11:00 - 11:25 h.
Café/descanso.
11:30 - 12:55 h.
P4. Prácticas con TOPAS. Análisis mineralógico con el método de Rietveld:
Muestras de interés cemento.
13:15 - 14:45 h.
Comida.
15:00 - 15:55 h.
P5. Prácticas con TOPAS. Análisis microstuctural: Williamson-Hall.
16:00 - 17:00 h.
P6. Prácticas con TOPAS. Determinación de la cantidad de fase amorfa con
estándar interno.
II