1. No category

Un certificado es incluido de manera estándar.
Refiérase a la página IX para detalles.
Función de medición de rugosidad superficial
• El detector de eje Z1 provee la máxima resolución de
0.0001 (cuando el intervalo de medici-on es de 8..) y se
incluye como estándar.
• Las básculas de alta exactitud de vidrio, integradas al eje X,
leen directamente el movimiento de la unidad conductora.
Permite evaluar el parámetro de espaciado de forma mucho
más fácil al mismo tiempo que logra un posicionamiento de
alta exactitud.
• La fuerza de la medición del detector puede seleccionarse
entre 4mN y 0.75mN.
Formtracer
Máquina híbrida con capacidad de doble función
Formtracer SV-C3200/4500
SERIE 525 - Sistema de Medición de Rugosidad Superficial
y de Contorno.
Medición de Rugosidad
Superficial
Función de medición del contorno
Medición
de contorno
• El detector de eje Z1 está equipado con un brazo de
báscula de arco de alta precisión de nuevo diseño. La
báscula de arco de alta exactitud puede leer directamente
el trayecto de arco de la punta del palpador para lograr
alta exactitud y resolución. E nuevo brazo extiende el
intervalo de medición del eje Z1 por 10mm mientras que
reduce la posibilidad de interferencia con las piezas en
comparación con modelos convencionales. El sujetador
del brazo puede montarse o desmontarse con un simple
toque en la junta magnética para mejorar la facilidad de
operación.
• CV-3100/4100
• CV-3200/4500
50
mm
60
mm
(modelo convencional)
10
mm
SV-C3200S4
ESPECIFICACIONES
19
mm
El intevalo de medición del eje Z1 ha sido incrementado en 100mm
•Las siguientes dos características han sido agregadas
únicamente a la Serie CV-4500 como funciones dedicadas para sisteas de medición del contorno.
(1) Medición continua en dirección vertical (arriba/abajo)
disponible en combinación con un palpador de doble
punta. Los datos contínuos de medición arriba/abajo
facilitan el análisis del diámetro efectivo de las roscas de
tornillos, lo que ha sido difícil de medir en el pasado.
(2) La fuerza de medición puede ser configurada en el
software FROMTRACEPAK. El reemplazo del peso y
el ajuste de posición no son requeridos para ajustar la
fuerza de medición.
Medición hacia
arriba (plano
superior)
Medición hacia abajo
(plano inferior)
r
ce
tra
rm
Fo
La dirección de
medición hacia
arriba/hacia abajo
es intercambiable
en el software
•El análisis avanzado está disponible con operaciones
simples y el resultado puede mostrars de manera inmediata gracias al programa de análiss FROMTRACEPAK
de Rugosidad/Contorno Superficial.
•La combinación de un medidor de rugosidad superficial
y un instrumento de medición del contorno ahorra espacio de instalación.
Refiérase a la serie Formtracer SV-C3200/4200
(Catálogo No. E15012) para más detalles.
Modelo No.
Medición de rugosidad superficial
Eje X (unidad
Intervalo de conductora)
medición
Eje Z1 (detector)
Rectitud
Resolución
Eje Z1 (detector)
SV-C3200S4
SV-C4500S4
SV-C3200H4
SV-C4500H4
SV-C3200W4
SV-C4500W4
SV-C3200S8
SV-C4500S8
100mm
SV-C3200H8
SV-C4500H8
SV-C3200W8
SV-C4500W8
200mm
800µm/80µm/8µm
(0.05+L/1000) μm L: Longitud transversal (mm)
0.5µm/200mm
0.01µm(800µm), 0.001µm(80µm), 0.0001µm(8µm)
0.75mN (Cuando el No. de Código de la unidad principal termina en "-1") /
Fuerza de medición
4mN (Cuando el No. de Código de la unidad principal termina en "-2")
60°, 2µmR (Cuando el No. de Código de la unidad principal termina en "-1") /
Forma de la punta del palpador
90°, 5µmR (Cuando el No. de Código de la unidad principal termina en "-2")
Estándares aplicables
JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Parámetro
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
Perfil principal, Perfil de dureza, Perfil de ondulación, Perfil de ondulación filtrado, Perfil primario de ondulación
Perfil evaluado
de círculo rotativo, Perfil de ondulación de círculo rotativo, Perfil de residuo de envoltura, Perfil DF (DIN4776/
ISO13565-1), Perfil de dureza motif, (El perfil de ondulación de la envoltura se muestra cuando se evaláu el motif)
Curva de relación de materiales, Curva de distribución de amplitud de la altura del perfi, Gráfica de espectro
de energía, Gráfica de auto-correlación, gráfico de energía Walsh, gráfico de auto-correlación Walsh,gráfico de
Gráfica de Análisis
distribución de pendiente, gráfico de distribución de pico local, gráfico de distribución de parámetros (la función
de análisis del contorno puede analyzar el área de abrasión cantidad y superposición.
Línea recta de mínimos cuadrados, Compensación de superficie-R, Compensación de elipse, Compensación de
FUnción de compensación de datos parábola, Compansación hiperbólica, Compensación cónica, Compensación polinominal (Automática o arbitraria
2do a 7o), Sin compensación.
Filtro
FIltro Gaussiano, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, filtro de ranuras robusto
• Medición del contorno
Eje X (unidad
100mm
200mm
Intervalo de conductora)
medición
Eje Z1 (detector)
60mm (±30mm del horizontal)
Rectitud
0.8µm/100mm
2µm/200mm
Eje X (unidad
±(0.8+0.01L)µm L: longitud transversal (mm)
±(0.8+0.02L)µm L = longitud transversal (mm)
Error Máximo conductora)
(20°C)
Serie SV-C3200: ±(1.6+|2H|/100)μm, Serie SV-C4500: ±(0.8+|2H|/100)μm
Eje Z1 (detector)
H: Sondenado altura desde el horizontal (mm)
Eje X (unidad
0.05 µm
conductora)
Resolución
Eje Z1 (detector)
Serie SV-C3200: 0.04µm, Serie SV-C4500: 0.02µm
Eje Z2 (columna)
1 µm
Serie SV-C3200: 30mN (ajuste usando pesos)
Fuerza de medición
Serie SV-C4500: 10, 20, 30, 40, 50mN (haciendo el cambio en el software)
Serie SV-C3200: Dirección vertical (arriba/abajo, medición simple)
Superficie del palpador
Serie SV-C4500: Dirección vertical (arriba/abajo, disponible para medición contínua)
• Especificación Común
Intervalo de movimiento del eje Z2 (columna)
300mm
500mm
300mm
500mm
Intervalo de inclinación del eje X
±45°
0 a 80mm/s u operación manual
Velocidad de Eje X
conducción Eje Z2 (columna)
0 a 30mm/s u operación manual
Velocidad de medición
0.02 a 5mm/s
Nota: Mientras que la apariencia de una mesa de medición de piedra natural varía depende de la fuente,
siempre puede confiarse en la alta estabilidad para la que este material es conocido.
Mitutoyo opera una política de mejora continua para ofrecer al cliente los beneficios de los últimos avances tecnológicos.
Por lo tanto nos reservamos el derecho de cambiar cualquier o todos los aspectos de cualquier especificación sin previo aviso.
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Formtracer
Un certificado es incluido de manera estándar.
Refiérase a la página IX para detalles.
Máquina híbridad con capacidad de doble función
Formtracer CS-3200S4
SERIE 525 - Sistema de Medición de Rugosidad Superficial
y de Contorno.
•Equipado con un intervalo amplio y un
detector de eje Z de alta resolución.
• Intervalo de medición
Eje Z1 (detector): 5mm
(Resolución: 0.0008μm
*Aplica cuando el intervalo de medición es 0.05mm)
Eje X: 100mm
(Resolución: 0.05μm)
•Colgado del detector: Max. 70mm
(Fijable a la posición deseada)
•Use el respetado software
FORMTRACEPAK para dar una gran
variedad de funciones de análisis para lograr
excelente evaluación de la textura superficial.
CS-3200S4
L
ESPECIFICACIONES
Eje Z2 (columna)
Eje X
CS-3200S4
100mm/0.05µm
5mm/0.08µm
Eje Z2 (columna)
0.05mm/0.0008µm
1 µm
±(0.8+0.01L)µm (L= Longitud de medición (mm))
Eje Z1 (detector)
±(1.5+|2H|/100) μm H = sondenado desde la horizontal (mm)
Modelo No.
Eje X
Intervalo de
medición/ Eje Z1 (detector)
Resolución
Error
máximo
(20°C)
Bajo uso normal
0.2µm/100mm
Sobresilando al máximo
0.4µm/100mm
Medición de rugosidad
0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4-pasos)
Velocidad de
medición
Medición de contorno
0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7-pasos)
Unidad
conductora Velocidad de
Eje x (dirección horizontal)
0 a 80mm/s u operación manual
conducción
Eje Z2 (dirección vertical)
0 a 20mm/s u operación manual
Movimiento arriba/abajo
300mm (motorizado)
Rango de inclinación
±45°
Método de detección
Inductancia diferencial
Fuerza de medición
0.75mN
Palpador estándar (para
Ángulo de la punta: 60º cono, Radio de la punta: 2μm,
medición de rugosidad/
Detector
Punta de diamante
contorno)
Palpador
Palpador cónico (para medición Ángulo de la punta: 30º cono, Radio de la punta: 25μm, Zafiro
de contorno
Palpador arriba/abajo
Disponible (puede deternerse en posición de aire)
Rectitud eje X
Nota: Mientras que la apariencia de una mesa de medición de piedra natural varía depende de la fuente, siempre
puede confiarse en la alta estabilidad para la que este material es conocido.
Refiérase a la serie Formtracer CS-3200
(Catálogo No. E4327) para más detalles.
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Mitutoyo opera una política de mejora continua para ofrecer al cliente los beneficios de los últimos avances tecnológicos.
Por lo tanto nos reservamos el derecho de cambiar cualquier o todos los aspectos de cualquier especificación sin previo aviso.
Un certificado es incluido de manera estándar.
Refiérase a la página IX para detalles.
•Sistema CNC de medición de rugosidad superficial/
contorno de tipo palpador de alta exactitud que
permite la medición de la rugosidad superficial
y forma/contorno con una unidad a través del
reemplazo del detector.
•Los ejes X1, Y y Z2 tienen una máxima velocidad
de conducción de 200mm/s. Esto permite
posicionamiento de alta velocidad que puede
tener como resultado un gran incremento en el
rendimiento tareas de medición de perfil múltiple/
piezas múltiples.
•Para los modelos equipados con e eje α es posible
realizar mediciones contínuas sobre superficies
horizontales e inclinadas mediante la inclinación
de potencia de la unidad conductora.
•Para los modelos equipados con la tabla de eje-Y,
es posible expandir el intervalo de medición para
piezas múltiples, etc., a través del posicionamiento
en Y.
•Serie SV-C3000CNC
Detector para sistema de medición de rugosidad
superficial/ contorno (Eje Z1)
Exactitud ±(2+|4H|/100)µm
•Serie SV-C4000CNC
Detector para sistema de medición de rugosidad
superficial/ contorno (Eje Z1)
Exactitud ±(0.8+|0.5H|/25)µm
•Control simultáneo de 2 ejes en direcciones X y Y
que permite la medición de plano inclinado.
*Se requiere la mesa de eje Y opcional.
•Cuando se reemplaza el detector de forma/
contorno del eje Z1 por el de medición de
rugosidad superficial, o viceversa, es un reemplazo
sencillo sin necesidad de volver a enrutar los cables
de conexión.
•Como el detector de eje-Z1 y el QVP-II incluyen un
dispositivo de seguridad anti-colisión, la máquina
se detendrá automáticamente si el detector toca
una pieza o plantilla.
•Función opcional de control externo (Ext I/O) a
través de comunicación bidireccional (RS-232C)
con el PLC (controlador lógico programable)
disponible.
Formtracer Extreme SV-C3000/4000CNC
SERIE 525 - Sistema CNC de Medición de Rugosidad
Superficial y de Contorno.
ESPECIFICACIONES
Modelo No.
Eje X1
(Unidad
condutora)
Contorno
Rugosidad
Superficial
Detector para medición de rugosidad superficial
Detector para medición de contorno/forma
Contorno
Eje Z1
(detector)
Rugosidad
Superficial
Eje Z2 (Columna)
Refiérase a la serie de Instrumentos de Medición de Forma
CNC (Catálogo No. E4284) para más detalles.
SV-C3000CNC (El detector de rugosidad superficial se muestra montado junto con la
unidad inclinable y la mesa de eje Y)
SV-C3000CNC
SV-C4000CNC
200mm
Intervalo de medición
Resolución
0.05 µm
Tipo de escala
Codificador lineal tipo reflexivo
Velocidad Modo CNC
Max. 200mm/s
de
Modo de
0 a 60mm/s
conducción palanca de mano
Velocidad de medición
0.02 a 2mm/s
Dirección de medición
Hacia adelante / hacia atrás
Rectitud
2µm/200mm
Exactitud (20°C)
±(1+4L/200)µm L: Longitud de medición (mm) ±(0.8+4L/200)µm L: Longitud de medición (mm)
Dirección de medición
Hacia atrás
Rectitud
0.5 µm/200mm
Intervalo de medición
50mm (±25mm desde el horizontal)
Eje Z1 (detector)
0.2 µm
0.05 µm
Movimiento vertical del
Movimiento
del
arco
palpador
Scale type
Codificador lineal tipo reflexivo
Escala Holoscale de láser
Exactitud (20°C)
±(2+|4H| /100)µm
±(0.8+|0.5H| /25)µm
Fuerza de medición
30mN
Ángulo rastreable
Ascendente: 70°, Descendente: 70°, (Depende de la textura de la superficie)
Punta del palpador
30° cono, Carburo
Superficie del palpador
hacia abajo
Intervalo de medición
800µm/80µm/8µm
Resolución
0.01µm/0.001µm/0.0001µm
Fuerza de medición
La especificación es seleccionable de 4mN o 0.75mN.
Intervalo de conducción
La especificación es seleccionable de 300mm o 500mm.
Resolución
0.05 µm
Tipo de escala
Codificador lineal tipo reflexivo
Modo CNC
Max. 200mm/s
Drive speed Modo de
0 a 50mm/s
palanca de mano
Tamaño de la base (W×D)
750×600mm
Material de la base
Gabro
Nota: Mientras que la apariencia de una mesa de medición de piedra natural varía depende de la fuente,
siempre puede confiarse en la alta estabilidad para la que este material es conocido.
Mitutoyo opera una política de mejora continua para ofrecer al cliente los beneficios de los últimos avances tecnológicos.
Por lo tanto nos reservamos el derecho de cambiar cualquier o todos los aspectos de cualquier especificación sin previo aviso.
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L
Formtracer
Un certificado es incluido de manera estándar.
Refiérase a la página IX para detalles.
Máquina híbridad con capacidad de doble función
Formtracer Extreme CS-5000CNC/CS-H5000CNC
SERIE 525 - Sistema CNC de Medición de Rugosidad
Superficial y de Contorno.
Detector de intervalo amplio utilizando
tecnología de control activo
CS-H5000CNC
(Con mesa eje Y)
ESPECIFICACIONES
L
CS-5000CNC
Modelo No.
Eje X
Eje Z1
(Detector)
Eje Z2
(Columna)
•Sistema CNC de medición de rugosidad superficial/
contorno de tipo palpador de alta exactitud que
permite la medición de la rugosidad superficial y
forma/contorno.
•Los ejes X1, Y y Z2 tienen una máxima velocidad de
conducción de 40mm/s y 200mm/s respectivamente.
Esto permite posicionamiento de alta velocidad que
puede tener como resultado un gran incremento en
el rendimiento tareas de medición de perfil múltiple/
piezas múltiples.
•Una escala láser Holoscale de Mitutoyo está
incorporada en los ejes X1 y Z1 para que la alta
resolución sea lograda y la medición de forma/
contorno y rugosidad superficial por lote puedan
realizarse.
•El método de control activo es utilizado por el detector
del eje Z1 para implementar una capacidad de
medición de amplio intervalo cuando la variación la
fuerza de medición dinámica está restringida.
•Como el detector de eje-Z1 y el QVP-II incluyen un
dispositivo de seguridad anti-colisión, la máquina se
detendrá automáticamente si el detector toca una
pieza o plantilla.
•Para los modelos equipados con e eje α es posible
realizar mediciones contínuas sobre superficies
horizontales e inclinadas mediante la inclinación de
potencia del eje X1. (únicamente CS-5000CNC)
•Para los modelos equipados con la tabla de eje-Y, es
posible expandir el intervalo de medición para piezas
múltiples, etc., a través del posicionamiento en la
dirección del eje Y.
•Función opcional de control externo (Ext I/O) a través
de comunicación bidireccional (RS-232C) con el PLC
(controlador lógico programable) disponible.
Intervalo de medición
Tipo de escala
Resolución
Modo CNC
Velocidad de
conducción
Modo de palanca de mano
Velocidad de medición
Dirección de medición
(con palpador estándar)
Rectitud
(con palpador de doble longitud)
Error Máximo (20°C)
(con palpador estándar)
Intervalo de medición
(con palpador de doble longitud)
con palpador estándar)
Resolución
(con palpador de doble longitud)
Movimiento vertical del palpador
Tipo de escala
Error Máximo (20°C)
(con palpador estándar)
Fuerza de medición
(con palpador de doble longitud)
Ángulo rastreable
Palpador estándar
Palpador estándar de bola
Punta del palpador
Palpador de doble longitud
Palpador de doble longitud
Palpador de doble longitud de bola
Superficie del palpador
Eje Z2 (columna, tipo S)
Intervalo del recorrido
Eje Z2 (columna, tipo H
Resolución
Tipo de escala
Modo CNC
Velocidad de
conducción
Modo de palanca de mano
Tamaño de la base
Material de la base
CS-H5000CNC
200mm
0.00625 µm
Holoscale Láser
Max. 40mm/s
0 to 40mm/s
0.02 to 0.2mm/s (rugosidad superficial), 0.02 to 2mm/s (forma/contorno)
Hacia adelante/ Hacia atrás
(0.1+0.0015L)μm L: Longitud transversal (mm)
(0.05+0.0003L)μm L: Longitud transversal (mm)
(0.2+0.0015L)μm L: Longitud transversal (mm)
(0.1+0.0015L)μm L: Longitud transversal (mm)
±(0.3+0.002L)µm L: Longitud transversal (mm)
±(0.16+0.001L)µm L: Longitud transversal (mm)
12mm
12 µm
24mm
24 µm
0.004 µm
0.001 µm
0.008 µm
0.002 µm
Movimiento de Arco
Holoscale Láser
±(0.3+|0.02H|)µm H: sondeando altura (mm)
±(0.07+|0.02H|)µm H: sondeando altura (mm)
4mN (Fijo)
0.75mN (Fijo)
Ascendente: 60°, Descendente: 60°, (Depende de la textura superficial)
Ángulo de la punta: 40°, Radio de la punta: 5μm, Punta de diamante
Radio de la punta: 0.25mm, Zafiro
Ángulo de la punta: 40°, Radio de la punta: 5μm, Punta de diamante
—
Ángulo de la punta: 60°, Radio de la punta: 2μm, Punta de diamante
Radio de la punta: 0.25mm, Zafiro
hacia abajo
300mm
500mm
—
0.05 µm
Codificador lineal tipo reflexivo
Max. 200mm/s
0 a 50mm/s
750×600mm
Gabro
Nota: Mientras que la apariencia de una mesa de medición de piedra natural varía depende de la fuente, siempre puede confiarse en la alta estabilidad para la que
este material es conocido.
498
Mitutoyo opera una política de mejora continua para ofrecer al cliente los beneficios de los últimos avances tecnológicos.
Por lo tanto nos reservamos el derecho de cambiar cualquier o todos los aspectos de cualquier especificación sin previo aviso.